浅析少子寿命测试仪的点

　　少子寿命测试仪是款硅片少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。
 

　　下面我给大家讲讲它的点：
 

　　1.测试范围广：包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命测量。
 

　　2.主要应用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片的厂、出厂检查，过程中重金属沾污和缺陷的监控等。
 

　　3.适用于低阻硅料少子寿命的测量，电阻率测量范围可达ρ>0.1Ω?cm(可扩展至0.01Ω?cm)，*了微波光电导无法检测低阻单晶硅的问题。
 

　　4.程监控动态测试过程，避免了微波光电导(u-PCD)无法观测晶体硅陷阱效应，表面复合效应缺陷的问题。
 

　　5.贯穿深度大，达500微米，相比微波光电导的30微米的贯穿深度，真正体现了少子的体寿命的测量，避免了表面复合效应的干扰。
 

　　6.业定制样品架满足了原生多晶硅料企业测试多种形状的硅材料少子寿命的要求，包括硅芯、检磷棒、检硼棒等。
 

　　7.性价比，价格远低于外外少子寿命测试仪产品，大程度地降低了企业的测试成本。
 

　　北京恒奥德仪仪器仪表有限公司为各大企业提供了许多产品和优质服务。公司坚持以用户至上，质量率，信誉率，信誉恒和服务yi为宗旨。产品出厂年内免费维修，终身保护。严格的要求，稳定的产量是我厂发展生存的希望，我们希望广大科研程人员对诚产品提出更合理、更善的建议，也希望我们共同研制开发，共未来