薄膜测厚仪/测厚仪/薄片测厚仪XTJ-STC-B
更新时间：2011-12-21 | 点击率：704
薄膜测厚仪型号：XTJ-STC-B
产品能
本测厚仪适应于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。
产品参数
Ø 分度值 0.001mm 量程 0-1mm
Ø 上下测量面为平面时，测量面地试样硬设备听负荷为0.5N到1.0N之间。
Ø 上下测量面为凸/平面时，上测量面的曲率半径在15-50mm时，其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间.
Ø 测量度 100um以内 度1um
100um到250um 度2um
250um以上 度3um
使用方法
Ø 测试前转动表盘让针调到零位，并试行按动捍手几次，回零后方可测试。
Ø 使用时按下捏手使测头升起，将被测物件放于上下测头之间。轻放捏手使之接触，此时读数即为衩测试样的厚度。
Ø 为使测试准确，可在同被测物的不同位置行测量，取其平均值。
Ø 使用毕，应将仪器擦净，装入仪器盒，放置干燥处，防止受潮。
北京恒奥德仪器仪表有限公司
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