温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪

　　温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪型号；HAD-FD-TM
　　
　　对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的项内容，但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验，HAD-FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷能，使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能（可根据要求增加多种温度传感器的测试）及了解半导体致冷堆的性能。
　　
　　仪器主要由以下分组成：
　　
　　1．TCF708控温仪
　　
　　2．四位半数字电压表（0-2V）
　　
　　3．加热井和致冷井装置
　　
　　4．AD590实验系统
　　
　　应用该仪器可以成以下实验：
　　
　　1．学习半导体制冷的原理。
　　
　　2．测量电型温度传感器AD590的性。
　　
　　3．学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。
　　
　　仪器主要参数：
　　
　　1．加热范围环境温度－120℃
　　
　　2．致冷范围环境温度－低于环境温度30℃
　　
　　3．控温度0.1℃
　　
　　4．测温度±3%
　　
　　北京恒奥德仪器仪表有限公司
　　
　　：/51760331/51717696
　　
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　　:李
　　
　　地址:北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211
　　
　　
　　
　　：hadgs2009
　　
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　　:http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/
　　
　　:1968156761116912188023626135142661074941