电电化学作站

更新时间：2012-11-06 | 点击率：1068

电电化学作站型号；HAD-CS1350

CS系列电化学作站由速MCU、度FET集成电路组成，内置DDS数字信号合成器、率恒电位/恒电仪、双通道相关分析器和双通道速16bit /度24bit AD转换器。能成线性扫描伏安（LSV）、循环伏安（CV）、阶梯波循环伏安（SCV）、方波循环伏安（SWV）、差分脉冲伏安（DPV）和常规脉冲伏安（NPV）以及差分常规脉冲伏安（DNPV）等电分析方法；还可以成恒电（位）化、动电位（）扫描、意恒电（位）方波，多恒电（位）阶跃、零电阻电计、电化学噪声（电偶电）、电化学阻抗（EIS）等电化学测试等能，所有测量能均可定时自动行，用于无人值守下的自动测量。
    CS系列包括多种型号，可用于较大电和较槽压的电化学测量和应用，例如电池、电分析、腐蚀、电解、电镀等。仪器的电输出范围为±，槽压为±21V。电压控制范围：±10V；电控制范围：±5.0A；电测量下限为10pA。
    CorrTest^TM测试软件是CS电化学作站的控制平台，软件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系统，并遵守Windows软件规则，易于安装和使用。软件包括文件管理、实验方法管理、多坐标图形显示和缩放、数据/图形的存贮/打印以及交互式帮助等。软件具有良好的用户界面，命令窗口所用的词汇与通用的电化学术语保持致，中文菜单和界面，方便用户的教学和科研作。
    CorrTest^TM测试软件还具有别针对材料和腐蚀电化学的实验方法，包括钝化曲线自动或人反扫，电化学再活化法，溶液电阻（IR降）测量和补偿法。Corrtest^TM分析软件则具有善的数据分析能，可对伏安曲线行数字平滑、积分、微分运算，能对化曲线行电化学参数解析，包括化电阻R_p，Tafel斜率b_a，b_c，腐蚀电密度i_corr，腐蚀速率计算等，还可计算噪声电阻Rn和率谱，并可将图形以矢量方式拷贝到Microsoft Word 文档中。
    CS系列电化学作站采用USB2.0接口与计算机通讯，设备安装简单，即插即用。
    外形尺寸：36.5cm（宽）*30.5cm（深）*16cm（）     仪器重量：6.5Kg
应用域
   1）研究电化学机理；物质的定性定量分析；
    2）常规电化学测试，包括电合成、电沉积（电镀）性能评价；
    3）能和能源材料（电池、电容器、纳米材料、生物传感器等）的机理和制备研究；
    4）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴保护效率快速评价以及氢渗测试等；
    5）金属材料在导电性介质（包括水/混凝土/土壤等环境）中的腐蚀电化学测试。
仪器配置
    1）仪器主机1台                                2） CorrTest测试与分析软件1套
    3）用电解池（含盐桥和排气管）1套              4）铂金电、参比电、作电各1支
    5）模拟电解池1个                              6）电源线/USB数据线各1条
    7）电电缆线1根                              8）电架（选配*）
    9）屏蔽箱（选配*）
标与能方

                               硬件参数标

恒电位电位控制范围：±10V	恒电控制范围：±5.0A
电位控制度：0.1%×满量程读数±1mV	电控制度：0.1%×满量程读数
电位灵敏度：10mV（>100Hz）, 3mV（<10Hz）	电灵敏度：<10pA
电位上升时间：<1mS（<10mA）, <10mS（<2A）,<20mS（>2A）	电量程：2A～200nA, 共8档
参比电输入阻抗：10¹² W\|\|20pF	zui大输出电：5.0A
槽压：±15V	电扫描增量：1mA @1A/mS
CV 和LSV扫描速度：0.01mV～10000V/s	电位扫描时电位增量：0.1mV @1V/mS
CA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s	DPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000s
SWV频率：0.001～100KHz	CV的zui小电位增量：0.075mV
AD数据采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz，	电与电位量程：自动设置
DA分辨率：16bit，建立时间：1mS	低通滤波器：8段可编程
接口通讯模式：USB2.0

电化学阻抗测量标

信号发生器
频率响应：10mHz～115KHz（CS1310/CS1350） 10mHz～1MHz（CS1360）	交信号幅值：0mV～2500mV
直偏压：-10～+10V	DDS输出阻抗：50W
波形：正弦波，三角波，方波	正弦波失真：<1%
扫描方式：对数/线性，增加/下降	zui大负载电容：1nF；zui大负载电感：10mH
信号分析器
积分时间：zui大值：10⁶个循环或者10⁵S	测量时间延迟：0～10⁵秒
zui小值：10mS 或者个循环的zui长时间
直偏置补偿
电位自动补偿范围：-10V～+10V	电补偿范围：-1A～+1A
带宽调整：自动或手动设置, 共8可调

CS系列仪器不同型号能

能方法		CS1120	CS1150	CS1300	CS1310	CS1350	CS1360
稳态化	开路电位测量（OCP）	•	•	•	•	•	•
	恒电位化	•	•	•	•	•	•
	恒电化		•	•	•	•	•
	动电位扫描（DPP）	•	•	•	•	•	•
	动电扫描（DGP）		•	•	•	•	•
暂态化	意恒电位方波	•	•	•	•	•	•
	意恒电方波		•	•	•	•	•
	多电位阶跃（VSTEP）	•	•	•	•	•	•
	多电阶跃（ISTEP）		•	•	•	•	•
	快速电位脉冲						•
	快速电脉冲						•
计时分析	计时电位法（CP）			•	•	•	•
	计时电法（CA）			•	•	•	•
	计时电量法（CC）			•	•	•	•
伏安分析	线性扫描伏安法（LSV）	•	•	•	•	•	•
	循环伏安法（CV）	•	•	•	•	•	•
	阶梯伏安法（SCV）			•		•	•
	差分脉冲伏安法（DPV）			•		•	•
	常规脉冲伏安法（NPV）			•		•	•
	方波伏安法（SWV）			•		•	•
	交伏安法（ACV）			•		•	•
	常规差分脉冲伏安法（DNPV）			•		•	•
	二次谐波交伏安（SHACV）			•		•	•
溶出伏安	恒电位溶出伏安			•		•	•
	线性溶出伏安			•		•	•
	阶梯溶出伏安			•		•	•
	方波溶出伏安			•		•	•
	交溶出伏安			•		•	•
交阻抗	电化学阻抗（EIS）～频率扫描				•	•	•
	电化学阻抗（EIS）～时间扫描				•	•	•
	电化学阻抗（EIS）～电位扫描				•	•	•
腐蚀测量	循环化曲线（CPP）	•	•	•	•	•	•
	线性化曲线（LPR）	•	•	•	•	•	•
	电化学噪声（EN）	•	•	•	•	•	•
	电偶腐蚀测量（ZRA）	•	•	•	•	•	•
	氢扩散测试（HDT）		•	•	•	•	•
电池测试	电池充放电测试		•	•	•	•	•
	恒电充放电		•	•	•	•	•
	恒电间歇充放电		•	•	•	•	•
扩展测量	盘环电测试			•	•	•	•
	数字记录仪	•	•	•	•	•	•
	波形发生器			•	•	•	•
	圆盘电机控制			•	•	•	•

注：* 氢渗透测试中主动式充氢需要另行配置CS1001A恒源使用或采用CS2350双恒电位仪。