四探针金属/半导体电阻率测量仪/四探针半导体电阻率测量仪

发表时间：2012/4/8 | 点击率：258

四探针金属/半导体电阻率测量仪/四探针半导体电阻率测量仪型号:HAD-SB100A/2

HAD-SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改型。

由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10^-6—10⁶Ω。

（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V 50Hz，为实验室环境使用）

HAD-SB100A/2由HAD-SB118直电压电源、HAD-PZ158A直数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三分组成。

l HAD-SB118直电压电源：是台4½位的电压源及电源，既可输出5µV—50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电，基本误差为

±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品SB118。

l HAD- PZ158A直数字电压表：具有6½位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理的度电子测量仪器，可测量0-1000V直电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品HAD-PZ158A。

l HAD-SB120/2四探针样品测试平台：该测试平台是HAD-SB120/1测试平台的改型。其有底座、支架、旋动件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原HAD-SB120/1的基础上作了很大的改，故在校的物理实验及研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便

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