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*,数显低温冲击试验机 JG-JBDS-300B

更新时间:2015-03-11  |  点击率:184

数显低温冲击试验机/数显低温冲击试验仪      型号:JG-JBDS-300B

 

产品简介

   JG-JBDS-300B数显低温冲击试验机,用来对金属材料在动负荷下抵抗冲击的性能行检验,是冶金机械制等单位的检测仪器,也是科研单位行新材料研究*的测试仪器。冲击试验机

本机为数显式自动冲击试验机,采用单片机控制,电动扬摆、冲击、微机测量、运算、数显结果并可打印等,作效率、测试度。在冲击试样后可利用剩余能量自动扬摆,做好下次试验准备,操作简便,作效率。在连续做冲击试验的试验室和大量做冲击试验的冶金、机械制等行业更能体现其性。单片机可数显材料冲击吸收、摆锤扬角及试验平均值,并可打印当次试验数据及试验的平均值。JG-JBDS-300B型采用半导体制冷,温度调节均为电气自动控制,配备用送样装置自动送料,试样自动端面定位,确保试样出炉至冲击时间不大于2秒,满足金属低温夏比冲击试验方法的要求.冲击试验机

 

主要标:

 

1、冲击能量:            150J、300J

2、摆锤预扬角:          150°

3、摆轴中心至冲击点距离: 750mm

4、冲击速度:            5.2m/s

5、试样支座跨距:        40mm

6、钳口圆角:            R1-1.5mm

7、冲击刀刃圆角:        R2-2.5mm

8、冲击刀厚度:          16mm

9、制冷方式:            半导体制冷

10、试样盒容量:          20个

11、低温范围:            0--60℃

12、控温度:            波动±1.5℃

13、试样尺寸:            10×10×55mm

14、外形尺寸:            1500 mm×850 mm×1340 mm

15、试验机净重:          850Kg

16、电源:交三相        380V±10%  50HZ 

17、环境条件:            周围环境中无腐蚀介质,无震动,无强电磁场干扰