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防水卷材测厚仪 防水卷材测厚仪是根据GBl8242-2000及GBl8243-2000标准要求为防水卷材厚度测量而制。
在近代的许多域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度、度、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、学等诸多域得到广泛应用。
混凝土回弹测厚仪是根据冲击回波的原理,针对在单面混凝土行厚度测量。冲击回波法使用个传感器测试记录,冲击在临近传感器表面产生的回波。对各种反射回波的数据行快速傅立叶变换(FFT)。在***波谱上显示的每个定频率都对应着个定的厚度和深度。