腐蚀率测试仪 型号：HAD-W880 采用线性极化、弱极化及交流阻抗相结合的方法进行腐蚀速度的测量。极化电阻测量技术是采用斯特恩公式来估算腐蚀电流密度Icorr。

微量元素测试仪 微电脑控制，数字化线路、程序化设计，液晶显示，交直流两用，测试数据可存储查询，可野外流动测试，降低操作者的失误和劳动强度。

精密四探针电阻率测试仪 型号： HAD-S2663 可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料

比热容测试仪 型号：HAD-R3C 符合GJB 330A-2000标准要求。此类仪器全部测量和控制均采用计算机控制，减少人为误差，提高了测试精度。

颗粒强度测试仪 型号：H30760 容量:0～3000N 示值准确度：±1% 压板：￠100mm 压板间距：75mm 测试速度：12.7mm/min

自动扶梯同步率测试仪能方便地在现场测试各种自动扶梯和自动人行道的同步率偏差，节约测试时间，提高测试精度。