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首页 > 产品展示 > > 电子测量仪器 > KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪 型号:KDK-KDY-1
 
 
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产品型号:
KDK-KDY-1
产品名称:
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪 型号:KDK-KDY-1
产品报价:
产品特点:
四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。
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四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪  型号:KDK-KDY-1

四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。
本仪器的点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另块数字表(以分之几的度)适时监测程的电变化,免除了测量电/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电。主机还提供度为0.05%的恒源,使测量电度稳定。本机配有恒源开关,在测量某些箔层材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品:“小游移四探针头”,探针游移率在0.1~0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器,测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正,并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机能数
(1)测量范围:
可测电阻率:0.0001~19000Ω•cm
可测方块电阻:0.001~1900Ω•□
(2)恒源:
输出电:DC 0.001~100mA 五档连续可调
量程:0.001~0.01mA
0.01~0.10mA
0.10~1.0mA
1.0~10mA
10~100mA
恒度:各档均低于±0.05%
(3)直数字电压表:
测量范围:0~199.99mV
灵敏度:10μV
基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
输出电源:≥1000ΩM
(4)供电电源:
AC 220V±10% 50/60 Hz 率:12W
(5)使用环境:
温度:23±2℃ 相对湿度:≤65%
无较强的电场干扰,无强光直接照射
(6)重量、体积:
主机重量:7.5kg
体积:365×380×160(单位:mm 长度×宽度×度)

备注:
等测量时(测电阻率),度<3%
电气测量时(测电阻),度在0.3%以内

备注:
仪器包括:主机台;测试架(包括台面)个;四探针头1个

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