密封胶相容性试验箱

1. 密封胶相容性试验箱/密封性试验箱 型号：HNJ-UV2004

密封胶相容性试验箱（HNJ-UVA-340相溶性紫外线辐射照试验箱,）是GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》（附录A相容性试验）中的主要检测仪器之。
仪器具有作状态记忆、温度自动控制及辐照时间计时能。当辐照时间到时能自动停机和报警。辐照过程中若外界停电，当恢复供电时，自动启动并继续辐照试验，计时器行累加计时。
仪器满足GB16776-2005《建筑用硅酮结构密封胶》（附录A相容性试验）对（HNJ-UVA-340）的要求。
主要标：
1、紫外线荧光灯率： 40Ｗ×4支
2、温度测量范围：     0～65℃
3、温度控制度：     ±0.5℃
4、辐照时间设定值：   0～999小时59分钟
5、加热器率：       200Ｗ
6、试验箱外形尺寸：   1250×350×690mm
7、电      源：       220VAC±10%  2kVA
8、壳      体：       不锈钢

2. 电热恒温水箱/电热恒温水浴　型号：HA/HH .W21-20

本产品用于疗卫生、科研、大院校、实验室等单位用于蒸发、浓缩、恒温加热化学物品、血清检查、渚沸消毒等用。
产品外壳采用冷轧板，内胆、上盖采用优质不锈钢制成，表面静电喷涂，控温仪表采用针式、数字显示式、智能式，以适应用户不同需要。
 
二、参数
     使用电源 :220V±10% 50Hz 
     额定率(W):500±10% 
     温度范围 (℃):室温+5~65 
     温度度 (℃):±0.5 
     温度波动度 (℃):±1 
     作室尺寸 深x宽x(mm）： 420×180×105

3. 磁性测厚仪型号：TX-TD300

TX-TD300型磁性测厚仪是种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合家标准GB/T4957，多次通过家监督的性能试验，获得计量器具制许可证。

膜厚校正片
﹡ 膜厚校正片是仪器的计量基准。TX-TD300磁性测厚仪的膜厚校正片经过
     监督的检测，附有检测报告。这点在内外仪器中都是不多见的。它保
     证了仪器计量的准确性和可靠性。

探头
﹡ 测厚仪zui容易损坏的件是探头，本公司的TX-TD300磁性测厚仪对探头做了殊
     的耐久性，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护能。

探头线
﹡ 由于涂镀层测厚仪使用频率很，探头线成为易损件。般产仪器的探头用
     不多久就会出现故障，多数问题出在探头线上。

天星磁性测厚仪使用的探头线是在日本定做的。这种导线zui初用于机器人，规定可
经受几百次的曲折。实践证明，这种探头线很少有因频繁曲折而损坏的。

4.  涡测厚仪 型号:TX-ED400

 TX-ED400型涡测厚仪是TX-ED300型测厚仪的改型，仪器性能大幅度提。
      仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
      仪器适于在现场、销售现场或施现场对产品行快速、无损的膜厚检查， 可用于检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡法》。
仪器点
       TX-ED400型涡测厚仪与TX-ED300型相比，具有如下点：
＊量程宽   TX-ED400型的量程达到0～500μm。
＊度   TX-ED400型的测量度达到2%。
＊分辨率   TX-ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便   只校正“0"和“50μm"两点，即可在量程范围内保证度。
＊基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
   误差不大于1～2μm。
＊可靠性提   采用集成度、稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性
   提。
＊稳定性提   采用的温度补偿，测量值随环境温度的变化很小。仪器
   校正次可在现场长期使用。
＊探头线寿命长   采用德口的，在德测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
   可大大延长。
＊探头芯寿命长   采用强度磁芯材料，微调了探头，探头芯寿命可大大延
   长。
＊探头可互换   外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无
   需返厂维修。

测量范围：     0～500μm
测量度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可选）
使用温度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g

5. 可调温露点仪/露点仪/在中空玻璃点仪 型号：ZJZ-TW-25

1.用途：

ZJZ-TW-25型可调温露点仪为符合美ASTM E546和E576标准的中空玻璃露点检测设备。该设备为便携型的检测中空玻璃露点的用设备，可对水平放置或垂直放置的样品行测量。ZJZ-TW-25型可调温露点仪具有冷阱温度调节范围大、温度调节梯度小、冷容量大（规定试验时间内温度波动小）、冷散失量小、试验成本低等点,在中空玻璃厂家、科研院所、检测中心及建筑程上已得到了广泛的应用。

２.主要标:

1. 冷阱有效直径：Φ25.4mm;
2. 干冰筒容积：Φ75×145mm；
3. 温度调节范围：-10至-60℃；
4. 温度调节梯度：≤±2℃；
5. 温度波动量：±2℃；
6. 温度调节示表（百分表）准确性≤±10μm；
7. 数显温度计示准确性≤±1℃；
8. 试验方式：水平样品或垂直样品

温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的