片剂硬度仪

1.片剂硬度仪/片剂硬度测试仪 型号:HAD-YD1

片剂硬度仪 是用于测量片剂的压碎硬度。
适用标准：JB/T20104-2007
 标:
△ 硬度测试范围：2-200N  0.2KG-20KG  
△ 分辨率：0.1N  0.01Kg
△ 硬度测量度：量程±0.5%
△ 片剂测试直径：2-20mm
△ 整机率：10W
△ 外形尺寸：长*宽*（280mm *180mm *110mm） 
主要点:
① 度压力传感器，保证测试的度和重现性。
② 手动装片、手动压片，操作简便。
③ 系统可实现自动显示、自动锁存、自动复位、自动循环测试、自动线性误差修正、自动故障诊断。
④ 提供单位转换能，试验前后均可实现换算。
⑤ 用户可方便的使用标准砝码定期对仪器行测量度校正

2.无线压电互感器变比测试仪 型号:HAD-9500

 产品点

测量：低压电互感器二次回路的电、变比、比差、角差、相别、性、漏电在线测试监控；变压器两侧电大小、变比在线测试监控；空电、漏电测试；二次回路核相、相序判断能。

无线压变比测试仪突破传统结构，为测量低压二次回路的电、变比、漏电而心制的，采用CT及掩膜数字集成，由用压检测仪、低压电钳、主机、压缘杆、监控软件等组成，其无线传送测试数据能穿透多层楼房障碍，直线传输距离达300米。若不使用缘杆，还可以当作度低压钳形电表、漏电表使用，能准确测出0.01mA～1000A的电或漏电。 

3.活性炭粒度测定仪/活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪   型号:HAD-LD3

 主要件及主要参数:

测颗粒粒度测定仪的主要件及参数

l         转速：150±2r/min

转轴偏心距：20 ±1mm

2.定时器

3.电压：220V    率：0.5KW

4.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头点与选型参考》入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方块电阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直    径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.

 量程划分及误差等

4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

5.数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量）
电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

量程划分及误差等

作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）

净   重：≤1.5～2.0kg

温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的