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详细介绍
| 品牌 | 恒奥德 |
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| 光学温计型号:SYB-WGG2-201 | ||
| SYB-WGG2型光学温计时非接触式测量温的仪表，当被测量的温度于热电偶所能使用的范围，以及热电偶不可能装置或不适宜装置的场所，用光学温计般可以满足这个要求。 它广泛地用来测量冶炼、浇铸、轧钢、玻璃熔窑、锻打、热处理等温度，是冶炼、化和机械等业过程中*的温度测量仪表之。 主要标 SYB-WGG2型光学温计能在环境温度10～50℃，相对湿度不大于85%的情况下连续作。 物镜与目标之间的距离不小于700毫米。 标尺长度不小于90毫米。 净重约1.8公斤。 型号规格 测量范围℃： 700～1500 允许基本误差℃:（800～＜900）±33,（900～1500）±22,800℃以下仅作参考 测量范围℃1200～2000允许基本误差℃:±30 | 光学温计SYB-WGG2-201 |
2.
 | 产品名称：方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 产品型号：HAD-WSP-51 |
方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号：HAD-WSP-51
HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
三、四探针测试仪基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸（手持式）
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | |||
4） 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
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