型号：GSZ-RTS-8

四探针测试仪测试仪

描述：四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。

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2016-12-28
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品牌	恒奥德

四探针测试仪测试仪型号：GSZ-RTS-8

四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的用仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

产品名称：错觉试验仪
产品型号：HAD-BD-II-113

错觉试验仪型号；HAD-BD-II-113

HAD-BD－Ⅱ－113型错觉实验仪主要是证实缪勒－莱伊尔视错觉现象的存在和研究错觉量大小。

主要标：

1. 线段总长度：200mm，箭头线与箭尾线长度可调，可调范围±20mm

2. 错觉量长度读数误差：＜0.1mm，位于仪器的背面

3. 箭羽长度：25mm

4. 箭羽线夹角：30°、45°、60°

5. 选用种夹角箭羽线时的档板：2块

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