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    在近代的许多域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度、度、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、学等诸多域得到广泛应用。

    更新时间:2017-07-29型号:TP-TPY-1浏览量:2220
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    更新时间:2016-12-25型号:ZG-DJLC-A浏览量:1271
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    更新时间:2016-12-21型号:BTS-TT260浏览量:1414
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