描述:降落数值测定仪 型号:HAD-N1500 主要用于通过测定面粉中的α-活性来检测发芽损伤,确谷物和面粉的质量。即使低于5%比例的发芽颗粒混入谷物中,也会影响整体谷物的质量,使谷物价格比正常的低上10-30%,带来不小的经济损失。
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