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型号:HAD-CA9000

双踪示波器

描述:HAD-CA9000 系列产品双踪示波器基于CA8000系列示波器的基础上结合内外研发而成,在性能扩展和操作易用性上更贴近用户。

产品性 采用表面贴装
数字编码开关,手感轻、可靠性
灵敏度,Z偏转系数1mV/div
TV同步,可以显示稳定的TV-H和TV-号
自动聚焦,测量过程中聚焦电平可自动校正
触发锁定,触发电路呈自动同步状态,人调节触发电

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2016-09-12
  • 访问量

    1331
详细介绍
品牌恒奥德

双踪示波器型号:HAD-CA9000  


HAD-CA9000 系列产品双踪示波器基于CA8000系列示波器的基础上结合内外研发而成,在性能扩展和操作易用性上更贴近用户。

产品性 采用表面贴装
数字编码开关,手感轻、可靠性
灵敏度,zui偏转系数1mV/div
TV同步,可以显示稳定的TV-H和TV-号
自动聚焦,测量过程中聚焦电平可自动校正
触发锁定,触发电路呈自动同步状态,人调节触发电平
交替触发,能同时观察两路不相干信号



垂直系统
灵敏度 1mV~5V/DIV,按1-2-5顺序分12档
度 ≤±3%
微调比 ≥2.5:1
频宽 DC~40MHz
交耦合:小于10Hz(对于100kHz 8DIV 频响-3dB)
上升时间 约8.8ns
输入阻抗 约1MΩ/25pF
方波性 上冲:≤5%(在5mV/DIV范围内)
DC平衡移动 5mV~5V/DIV:±0.5DIV,1mV~2mV/DIV:±2.0DIV
线性 当波形在格子中心垂直移动时,幅度(2DIV)变化<±0.1DIV
垂直模式 CH1:通道1
CH2:通道2
DUAL:通道1与通道2同时显示,何扫描速度可选择交替或断续方式
ADD:通道1和通道2做代数相加
断续重复频率 约250kHz
输入耦合 AC GND DC
zui大输入电压 300V(DC+AC峰值,AC频率≤1kHz)
当探头设置在1:1时,zui大有效读出值为40Vp-p(14Vrms正弦波)
当探头设置在10:1时,zui大有效读出值为400Vp-p(140Vrms正弦波)
共模抑制比 在50kHz正弦波>50:1(设定CH1和CH2的灵敏度在相同的情况下)
信号输出 zui小20mV/div(50Ω输出频宽50Hz~5MHz)
两通道之间的缘 >1000:1 50kHz
>30:1 40MHz
CH2 INV BAL 平衡点变化率≤1DIV(对应于刻度中心)
触发
触发信号源 CH1,CH2,LINE,EXT(在DUAL或ADD模式时,CH1、CH2仅可选用个;在ALT模式时,如果TRIG.ALT的开关按下,可以用作两个不同信号的交替触发)
性 +/-
灵敏度 10Hz~2MHz:0.5DIV TRIG.ALT:2DIV EXT:200mV
2MHz~20MHz:1.5DIV 20MHz~40MHz:2DIV
TRIG.ALT:3DIV EXT:800mV
TV:同步脉冲<1.5DIV (EXT:1V)
外触发模式信号zui大输入阻抗 约1MΩ/25pF
zui大输入电压 300V(DC+AC峰值)AC 频率不大于1kHz
水平系统
扫描时间 0.1uS~0.1S/DIV,按1-2-5顺序分为19档
度 ≤±3%
微调比 ≥2.5:1
扫描扩展 10倍
×MAG扫描时间度 ≤±5%(10ns~50ns未校正)
线性 3%;×10MAG:5%(10ns~50ns未校正)
由×MAG引起的位移 在CRT中心小于2DIV
X-Y模式
灵敏度 同垂直轴
频宽 DC~500kHz
X-Y相位差 ≤3°(DC~50kHz之间)
Z轴
灵敏度 5Vp-p
频宽 DC~2MHz
输入阻抗 约10kΩ
zui大输入电压 30V(DC+AC峰值,AC频率小于或等于1kHz)

校正信号
波形 方波
频率 约1kHz
占空比 小于48:52
输出电压 2Vp-p±2%
输出阻抗 约1kΩ

CRT示波管
型号 A2119A(40MHz)
显示颜色、余辉 绿色、中余辉
有效屏幕面积 8×10DIV[1DIV=10MM(0.39in)]
刻度 内
轨迹旋转 面板可调


物理尺寸
长度 455毫米
宽度 310毫米
度 150毫米
重量 约8Kg


使用环境
温度要求 0° C 至40° C
相对湿度 ≤85%


电气规格
AC 输入电压 220 VAC ±10%
AC 输入频率 50 Hz/60Hz
耗 约40VA 



 
CN61M/CA-9040

 

 

 

2.

产品名称:半导体激光器测试系统
产品型号:BGS-6311 -X

半导体激光器测试系统 型号:BGS-6311 -X

BGS-6311 -X系列半导体激光器测试系统是种不需附加手段, 在半导体激光器线环境条件下能直接、快速、准确测量各种输出形式(包括直接输出、准直输出和光纤耦合输出等)的半导体激光器件参量的仪器。具有测试参数范围广、能齐、自动化程度、操作使用方便可靠、测试度等点。尤其在大率管芯直接输出激光参量测试方面是其它仪器所无法替代的。
该系统由探测器、采样器、角度控制器、信号处理器、计算机等单元组成。根据用户的测试要求选择配置。 可以测量: 激光输出率、电曲线(P-I)、管压降、电曲线(V-I)、 阈值电(Ith)、作电(Io)、作电压(Vo)、斜率效率(Es)、微分电阻(Rd)、率效率(Ep)、发射光谱(λ, δλ)。
同时,可以根据用户需求订制个性化产品。
入射窗孔径 Φ15~25 mm
激光率测量范围 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可选
不确定度 5%
作电测量范围 0~2A、0~50A、0~150A可选
不确定度 3%
发散角测量范围 -60~+60度
光谱测量范围 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm
校准波长 808nm或用户的其它波长
电压测量范围 0~4V、0~50V、0~150V可选
驱动电源 连续电源 0~2A, 4V、0~50A,40V可选
脉冲电源 0~50A、0~150A, 200V可选
  可根据用户需求订制

 

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