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型号:HAD-WZZ-3

数字式自动旋光仪/

描述:数字式自动旋光仪/参数:

测量范围:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z
Z小读数值:0.001°
准确度:±(0.01°+测量值×0.05%),±(0.03°Z+测量值×0.05%)
重复性:≤0.003°,≤0.03°Z
可测样品Z低透过率:10%
质量:28kg
外形尺寸:600mm×310mm×212mm

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2015-08-17
  • 访问量

    538
详细介绍
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1:数字式自动旋光仪/自动旋光仪 型号:HAD-WZZ-3

点:采用光电检测和微机控制,128X64位元液晶显示,可测试比旋度、旋光度、糖度、可自动复测并计算均值和均方根,配有RS232接口,可向PC机传送数据。


数字式自动旋光仪/参数:

测量范围:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z
zui小读数值:0.001°
准确度:±(0.01°+测量值×0.05%),±(0.03°Z+测量值×0.05%)
重复性:≤0.003°,≤0.03°Z
可测样品zui低透过率:10%
质量:28kg
外形尺寸:600mm×310mm×212mm  





2:侧面光检测仪 侧面光测试仪 型号:QXH-CM-3

侧面光检测仪 侧面光测试仪用途

QXH-CM-3型侧面光检测仪是依据中华人民共和家标准GB11614-2009《浮法玻璃》要求,用于检测浮法玻璃外观缺陷的辅助设备,与外观检测仪配合使用,可以测试浮法玻璃各种缺陷的数量和尺寸,是浮法玻璃企业的质检设备。

二、侧面光检测仪 侧面光测试仪原理

QXH-CM-3型侧面光检测仪在封闭的灯箱内装有碘钨灯,灯箱上有可以开启的狭缝,玻璃横插入狭缝向前运行,光线从玻璃断面射入玻璃,由于玻璃上各种缺陷对光线的漫射,缺陷在玻璃板面上呈现亮点,记下亮点的位置,用外观检测仪和读数显微镜检测缺陷的种类和大小。

三、侧面光检测仪 侧面光测试仪参数

1、光源:碘钨灯 率:1000W

2、狭缝开启的zui大宽度:20㎜

3、狭缝与光源间距:100㎜

4、设备尺寸:1330㎜×750㎜×900㎜

5、电源:AC.220V




3:压电加速度传感器/压电式压力传感器 型号:HAD/8602

标性 型号
HAD/8601 HAD/8602 HAD/8603
量程 ±50,±100g ±200,±500g ±300,±500g
灵敏度 ~60,~30pC/g ~25,~10pC/g ~2,~1pC/g
过载 能力 振动 150%F.S 150%F.S 150%F.S
冲击 2000g,3000g 5000g 5000g,7000g
固有频率 6kHz,15kHz 8kHz,12kHz 12kHz,15kHz
非线性 ≤5% ≤5% ≤5%
横向灵敏度比 ≤5% ≤5% ≤5%
作温度 -45~80℃ -45~80℃ -45~80℃
安装方式 M5螺柱 M5螺柱 M5螺柱
应用 通用性 通用性 温、频振动测量





4:手动涂敷器/薄层制板器/薄层铺板器 型号:HAD-III

薄层手动涂敷器/手动涂敷器/薄层制板器/薄层铺板器 , 共有三种型号 :

HAD-I 型为涂敷 10cm 宽薄层板,配有个小型 10cm

宽涂敷框,制备5x10,10x10,20×10cm薄层板

HAD-II 型为涂敷 20cm 宽薄层板,配有个大型 20cm

宽涂敷框,制备板规格为 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄层板。

HAD-III 涂敷器 综合了 I 型和 II 型的优点和结构方式,

配有大小两种涂敷框,在个涂板座上

可成上述各种规格薄层板的制备作 薄层板均能涂敷

材质:铝合金喷塑,*生锈,经久耐用。。涂敷框可调层厚度0.02-2mm。

详细说明 铺板.doc





5: 静电场描绘实验仪/静电场描绘试验仪/导电微晶静电场描绘仪型号:HAD/GVZ-3

静电场描绘实验仪/静电场描绘试验仪/导电微晶静电场描绘仪主要参数:

1.HAD/GVZ-3型为双层,同步探针,内置四种电板(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形或飞机机翼电场)。
2.规格为410mm*240mm,100mm,K4-2导线。
3.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
4.电源输出范围(直)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V。
5.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。

四种电(配数码管电源3位半)
(同心圆R为7cm,r为1cm, 其他电距离均为10cm)
1. 静电场描绘实验仪/静电场描绘试验仪/导电微晶静电场描绘仪仪器简介
本仪器采用各向均匀导电的微晶导电板,在其上面安置些不同的金属电。当有直电经两个电在导电板上通过时,由于微晶导电板相对于金属导体电导率低得多,故在两个电间沿电线会存在不同的电势,这种不同的电势可用数字电压表直接测出来。分析各测量点电势的变化规律,就可间接地得知相似的静电场中电势分布规律。
2.使用方法
(1)接线:
静电场用稳压电源输出+(红)接线柱用红色电线连接描绘架(红)、-(黑)接线柱用黑色电线连接描绘架(黑)接线柱。用稳压电源探针输入+(红色)接线柱用红色电线连接探针架连接线柱。将探针架好,并使探针下探头置于导电微晶电上,启动开关,校正,后测量。
(2)测量:
开启测量开关,如数字显字为0 V,则移动探针架至另电上,数字显10 V,般常用10 V,便于运算。然后纵横移动探针架,则电源电压表头显示读数随着运动而变化。如要测0 V~10 V间的何条等势(位)线,般可选0 V~10 V间某电压数据相同的8~10个点,再将这些点连成光滑的曲线即可得到此等势(位)线。
(3)记录:
实验报告都需要记录,以备学生计算或验证,对模拟法作深刻研究,则需在描绘架上铺平白纸,用橡胶磁条吸住,当表头显示读数认为需要记录时,轻轻按下,即能清晰记下小点,般所需记录电压请参阅讲义或由课教师定夺,为实验清晰快捷,每等位线8~10点,然后连接即可。




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