热电偶校验装置/热电偶校验仪

1：热电偶校验装置/热电偶校验仪型号：HAWJT-2A

HA/WJT-2A热电偶校验装置供校验作用热电偶，适用于：镍铬－镍硅（K）镍铬硅－镍硅（N）镍铬－铜镍（康铜）（E）等热电偶的检定和分度。
该装置具有较的电测系统和控温系统，检定数据可靠，性能稳定。
校验采用法：即利用二等标准铂铑10－铂热电偶和被校热电偶直接的方法行检定和分度。
装置系成套供应包括二等标准铂铑10－铂热电偶，操作台、热电偶管状检定炉。
操作台由控温系统和电测系统组成。
控温系统包括：XMTF智能数字调节仪，控温热电偶、固态继电器等。
电测系统包括：PZ150A型直数字电压表，SY821转换开关。
本装置适合于省、市、县法定计量机构，矿企业，科研单位使用。
热电偶校验装置/热电偶校验仪作条件：
环境温度：10～30℃
相对湿度：≤85﹪
大气压力：86～106Kpa
周围空气中无腐蚀性气体和严重尘埃除地磁场合，装置周围无其他外磁场存在装置置于无振动和　 冲击的作场所
电压电源　　220V±10﹪　　50HZ
外形尺寸和重量
操作台（长×宽×）　1200 mm×750 mm×1250mm
重　量：约160kg
检定炉（长×宽×）600 mm×260 mm×1130mm
重　量：50kg
1. 被检热电偶支数　　5支
2. 控温范围　　　　　300～1200℃
3. 控温稳定性　　　　不大于0.2℃/min
4. 具有温报警　　　自动切断电源能
5. 电测系统
HA/PZ150A型直数字电压表
测量范围1mV～100.000mV
灵敏度1uV
基本误差±（0.005﹪RD＋0.0015﹪FS）
SY821转换开关
寄生电势≤0.5uV
6. 控温系统
XMTF－21数字显示调节仪
分度号　S型　量程0～1600℃
控制方式　断续PID
控温热电偶　铂铑10－铂热电偶　分度号S型
管状检定炉
作电压　0～160V　50Hz
zui使用温度1200℃
zui均匀温场中心与炉子轴线方法偏离不大于10 mm。
炉室温升温时间从室温升到1100℃不大60分钟

2：手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪　型号：HADM-2

HADM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。
主机主要由数控恒源，分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见 表2《四探针探头型号规格征选型参照表》入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
电 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定
直 径：HAD/SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
HAD/SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等

量程（Ω-cm/□）
9.999
99.99
999.9
9999.
电阻测试范围
0.010～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～9999
电阻率/方阻
0.010/0.050～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～2000
基本误差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB

4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg

3：无油真空泵 真空泵 实验室小型真空泵 型号：HAD-R300

简介：
无油，保养；体积小，重量轻；两年质保，质量过硬！
zui大真空度：-650mmHg=85.5kPa=110tor；zui大速：17L/min

产品点：
1.无油，活塞往复式运作，保养。
2.构，不到50分贝的低噪音值，给实验室操作人员提供安静的环境。
3.质量可靠，通过欧盟CE认证及加拿大CSA认证，两年质保承诺使你无后顾之忧。
4.可长时间运行作，zui多可达3000小时。
5.标配真空调节阀，可控制真空度、速，同时调节阀内配有滤芯，使用更方便、安。
6.R系列无油式真空泵只需搭配简单的转换套件，便可转换成正压泵（空压机），机两用，经济实用。

产品参数：
zui大真空度：-650mmHg=85.5kPa=110tor
zui大速：17 l/min
噪音：50.0dB
率：60W
马达转速：1450RPM
风管接口：5/16"
尺寸：W275 x H165 x D150 (mm)
净重：4.1kg

4：便携式废液抽取系统/液体吸引泵/生物废液抽取系统 型号：BIOVAC235

说明：

·废液瓶内浮和管子之间滤器的双重废液逆保护装置，防止废液抽入泵内

·低的噪音和振动，噪音值甚至不到50分贝，非常适合在生物安柜内使用

·废液瓶、滤器、管子均可温压灭菌

·外壳材质为ABS，重量轻且易清洁

·内真空泵保修期为2年，有效的质量保证

应用：

各种培养皿废液的提取、细胞培养废液抽取等

型号：biovac225 biovac235 biovac240 （bv225 bv235 bv240）

5：微波光电导载子复合寿命测试仪/少子寿命测试仪　型号：HAD-100A

HAD-100A型微波光电导载子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料际组织SEMI标准MF1535-0707及家标准GB/T 26068-2010制。并且我单位是微波反射法家标准起草单位之。本设备采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。

寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。

读数方式：数字直读。

温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的