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详细介绍
| 品牌 | 其他品牌 |
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1.碘离子浓度计/碘离子分析仪/碘离子检测仪 型号：SX1-MP523-07
碘离子浓度计
| ● 符合际规范的GLP要求，具有自动校准、自动温度补偿、数据储存、RS232输出、时钟显示、能设置和自诊断信息等智能化能。 |
| ● 有三种不同的测量模式：稳定显示模式；定时测量模式；连续测量模式。 |
| ● 碘电量程: 1～6.3 PI (10-1 ～5X 10-7 mol/L)。 |
| ● 配置电：碘离子电，参比电，温度电和三复合pH电。 |
| ● 配置溶液：碘离子标准溶液，钙电浸泡液，参比电溶液和pH校正溶液。 |
| ● 仪器储存10种常用的离子模式可供选择，也可自行设定其它离子（需选购相应的离子电）。 |
| ● 可切换四种离子浓度单位：pX、mol/L、mg/L和ppm. |
| ● 自动识别13种pH标准缓冲溶液，有四个系列的标准缓冲溶液可以选择：欧美系列、NIST系列、中系列和自定义溶液。 |
| ● 可设置纯水pH测量模式和加氨纯水pH测量模式。 |
| ● 有EH氧化还原电位测量模式，直接显示相对于标准氢电电位的ORP值。 |
| ● 仪器带有*的产品序列号。 |
| ● 符合IP54防尘防溅等，仪表插口有硅胶帽密封保护。 |
pH | 测量范围 分辨率 准确度 输入电 输入阻抗 稳定性 温度补偿范围 | （-1.999 ~ 19.999）pH 0.1/0.01/0.001 pH 电计：±0.002 pH，配套：±0.01 pH ≤1×10-12 A ≥3×1012 Ω ±0.002 pH/3h （0 ~ 100）℃（自动或手动） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
mV | 测量范围(mV/ORP/EH) 分辨率 准确度 | -1999.9mV ~ 0 ~ 1999.9mV 0.1mV ±0.03% FS | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
碘离子 | 测量范围 显示单位 准确度 输入电 输入阻抗 稳定性 温度补偿范围 | 1 ~ 6.3 Pl Pl、mol/L、mg/L、ppm ± 0.04 Pl ≤2×10-12 A ≥1×1012 Ω ±0.01 pF/3h （0 ~ 50）℃（自动或手动） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
温度 | 测量范围 分辨率 准确度 | -10℃~ 110℃ 0.1℃ 5~ 60℃范围：±0.4℃ 其余范围：±0.8℃ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
其他参数 | 数据储存 储存内容 电源 通讯接口 尺寸和重量 质量和安认证 | 900组 测量值编号、测量值、温度值、ATC或MTC状态、测量日期、测量时间 DC9V/300mA RS232 160 × 190 × 70mm/880g ISO9001:2000, CE和CMC | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
作条件 2.半导体导电型号鉴别仪型号：JH-WSP-8 JH-WSP-8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型“P"和“N"的测量仪器，是采用整效应测量导电型号仪器，测量范围广。硅材料电阻率从10-2~104 Ω.cm，仪器采用美16位单片集成电路计算机为核心，利用数字采集滤波，并用“P"“N"数码直接显示。采用了单片机可使测量的准确度和稳定性大幅度提。仪器采用手持式三探针探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研需要。 用作太阳能多晶材料分选时，采用整法，对<0.1Ω.cm的材料具有声光报警能，广泛应用于太阳能电池的原材料筛选环节，快*。 主要标： 1. 测量范围：硅单晶材料电阻率10-1~104Ω.cm 2. 可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。 可测半导体材料尺寸：Φ5~Φ150mm以上。 3. 显示方式：P、N灯显示。 4. 测试探头：手持式探针间距3mm 探针Φ1mm速钢 5. 电源：220V 50HZ 20W 3.溴离子浓度计/溴离子检测仪/溴离子分析仪 型号：SX1-MP523-06
4.氯离子浓度计/氯离子检测仪/氯离子分析仪 型号：SX1-MP523-05
5./半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪型号：JH-WSP-6 JH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是厂家硅料分选测试的理想具。 1、 主要标: 电源：220V交 可测晶片直径（zui大）Ф100mm,方形230×220mm 恒源：电量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。 数字电压表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV 电阻率显示：三位半数字显示：小数点、性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米 输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω 测量度：±0.1。 zui大电阻测量误差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。 重掺检测误差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1% 测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65% 2、操作程序： 1、连好电源，打开后面板电源开关，电源示灯亮，表示待机毕。 2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的标准样块校准电阻率测试仪 3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可， 4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准次设备， 3、 针组件;维护及注意事项: 1、般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头的清理清洁作 2、维护后的安装及维护过程中,注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。 温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的 | 环境温度 环境湿度 IP等 | 5 ~ 35 ℃（0.01） 15 ~ 30 ℃（0.001） ≤75% IP54 防尘防溅 ：WWW.51658042.COM |
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