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1.半导体性曲线分析仪TCT-2003
半导体性曲线分析仪TCT-2003
半导体性曲线分析仪
可程式控制面板操作 (GPIB 标准介面)
参数的量测状态直接显示在 CRT 上
利用游标能可判定元件 GO/NO-GO
zui大集电10A(Pulse 40A),5A/DIV
zui小集电100pA/DIV
zui大集电压 2kV,500V/DIV
量测状态与数据可储存于内记忆体(16组)或软式磁碟机
(64组)
可接绘图机
标
扫描电源 | 型号 | TCT-2003 | TCT-2004 | TCT-2005 |
型式 | AC,波整,DC | |||
电压 | 0~2kV | |||
限电阻 | 0~1MΩ,20点 | 0~10MΩ,23点 | 0~1MΩ,20点 | |
阶梯波电源 | 型式 | 阶梯波 阶梯脉波 (300μs) | 阶梯波 阶梯脉波 (80,300μs) | 阶梯波 阶梯脉波 (300μs) |
电压/步阶 | 50mV~2V(×1,×0.1) | 50mV~2V | ||
电/步阶 | 50nA~200mA(×1,×0.1) | 50nA~200mA | ||
垂直轴 | 集电/格 | 2nA~2A (×1,×0.1)? | 1μA~5A (×1,×0.1) | 2nA~2A (×1,×0.1) |
射电/格 |
| 1nA~5mA (×1,×0.1) |
| |
水平轴 | 集电压/格 | 50mV~200V? (×1,×0.1) | 50mV~500V (×1,×0.1)? | 50mV~200V (×1,×0.1) |
基电压/格 | 50mV~2V(×1,×0.1) | 50mV~5V (×1,×0.1) | 50mV~2V (×1,×0.1) | |
GPIB介面 |
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内记忆体 |
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软碟机 |
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游标读值 |
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绘图机输出 |
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2.玻璃析晶电炉/电炉 型号:HAD-SG
、概述
由于玻璃的内能较同组成的晶体为,所以玻璃处于介稳状态,在定条件下存在着自发地析出晶体的倾向。这种出现晶体的现象叫做析晶,又称失透或反玻璃化。测定玻璃析晶性能就是测定玻璃的析晶温度范围,上限和下限以及在该温度范围内玻璃的析晶程度,根据测定结果可以制定合理的溶制,成形和热制度,从而避免析晶的产生,得到透明而理想的玻璃制品。
该仪器设备采用梯度炉法测定玻璃的析晶性能,广泛应用于厂、学校、科研单位用于分析测试玻璃等非金属材料的析晶性能。对掌握其,成形具有导性作用。
二、主要参数
1、 炉膛尺寸:Φ60×1000mm(可根据用户需求订做)
炉管材料:99刚玉
2、 炉膛zui温度:1400℃
3、 加热元件:硅碳棒 16支
4、 作温度梯度区间:400mm
2点电脑程序控温:室温~1400℃
测温热电偶:S分度号 控温2支,试样测温1支
温度梯度:20℃/cm可调
5、 试样瓷舟:99刚玉;推装置:手动
6、 观察孔直径:Φ50mm(石英玻璃)
3.材料耐火度测试仪/材料耐火度检测仪 型号:HAD-CJY-II
本仪器是用于测量型材料的原砂、混合料、玻璃和陶瓷原料烧结点温度、耐火度的种温、透射投影装置。它可使试验者在镜屏上清晰地看到试样在温情况下,材料试样的体积收缩、膨胀纯化及化的情况并得知各种情况发生时的相应温度。广泛用于铸、陶瓷、玻璃等行业及教学、科研。
、参数
1、试验温度温度范围: 1700℃。
2、加热速度: 1.5小时可达1700℃,也可根据需要调节。
3、影像放大倍率:8~9倍,成像画面配坐标系统可简易量化膨胀、收缩数据。
4、zui大耗: 2 KW
5、试样zui大尺寸:Ф7×8 mm
6、根据用户要求可配置CCD摄像及计算机图像处理系统,所有试验操作均计算机界面成,操作方便易学并提供套软件。
二、仪器的组成
本仪器是由光源、钼丝炉、投影装置、电气控制箱、制样器五份组成。
1、采用12V、30W光源灯泡发光经聚光镜片聚光,整个装置在三角形导轨上,根据需要可前后移动,聚光筒上下左右亦可行调整。
2、加热采用管式电阻炉,升温速度可手动、程序控温调节,炉膛试验区温度梯度±15℃。
3、投影分:来自聚光镜的平行光线,通过炉膛,将炉膛内试样投影到投影分的放大镜头上。经棱镜折射到平镜上来,再由平镜反射到乳白毛玻璃的镜屏上,试验人员从而可清晰地看到炉内试样随温度变化而产生的收缩、膨胀、钝化及化的投影图像。
4、电气分:采用电脑温控仪行控制,使其升温速度及控制度得到很好的保证,具体操作详见其使用说明书
4.介电常数测试仪/介电常数检测仪 型号;HAD-STD-A
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要标
1.频率范围及刻度误差
范围:50KHz~50MHz共分七个波段,允许误差:+2%
1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz
1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值测量范围及误差
范围:5~500
误差:1)当频率从5~25KHz
量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%
2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10%
3)△Q范围:-25 ~ 0 ~ +25。
3.电感测量范围及误差:范围:0.1μH~100mH,误差:+5%+0.01μH
4.试样尺寸
圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时);
Φ25~35mm(ε=12~30时)Φ15~20mm(ε>30时)。
5.智能式压缩强度试验机/压缩强度试验机/压缩强度试验仪 型号:HAD-SGY-II
本仪器满足GB8489-87,GB/20473-2006、GB8813-2008《硬质泡沫塑料压缩性能的测定》中压缩性能检测方法及抗压强度的检测,适用于陶瓷、石材、耐火材料、硬质泡沫、保温砂浆等材料等非金属材料的抗压强度及压缩强度测试.
主要参数
1、 zui大载荷:1T、2T、5T\10T\30T选;
2、 加荷速率:50-7KN/min可调;
3、 抗压强度试样尺寸:≤Ф80mm(可根据客户要求订做其它规格尺寸);
4、可检测不同压力下的变形量,位移形变检测范围:0-40mm;
5、 连计算机控制,软件数据处理,并生成测试报告;
6、 三相380V。
温馨提示:以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的