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型号:TCT-2003

半导体性曲线分析仪TCT-2003

描述:半导体性曲线分析仪TCT-2003
半导体性曲线分析仪
可程式控制面板操作 (GPIB 标准介面)
参数的量测状态直接显示在 CRT 上
利用游标能可判定元件 GO/NO-GO
Z大集电10A(Pulse 40A),5A/DIV
Z小集电100pA

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2016-08-01
  • 访问量

    676
详细介绍
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1.半导体性曲线分析仪TCT-2003
半导体性曲线分析仪TCT-2003

 

半导体性曲线分析仪

可程式控制面板操作 (GPIB 标准介面)

参数的量测状态直接显示在 CRT 上

利用游标能可判定元件 GO/NO-GO

zui大集电10A(Pulse 40A),5A/DIV

zui小集电100pA/DIV

zui大集电压 2kV,500V/DIV

量测状态与数据可储存于内记忆体(16组)或软式磁碟机

  (64组)

可接绘图机

 

扫描电源

型号

TCT-2003

TCT-2004

TCT-2005

型式

AC,波整,DC

电压

0~2kV

限电阻

0~1MΩ,20点

0~10MΩ,23点

0~1MΩ,20点

阶梯波电源

型式

阶梯波

阶梯脉波

(300μs)

阶梯波

阶梯脉波

(80,300μs)

阶梯波

阶梯脉波

(300μs)

电压/步阶

50mV~2V(×1,×0.1)

50mV~2V

电/步阶

50nA~200mA(×1,×0.1)

50nA~200mA

垂直轴

集电/格

2nA~2A

(×1,×0.1)?

1μA~5A

(×1,×0.1)

2nA~2A

(×1,×0.1)

射电/格

 

1nA~5mA (×1,×0.1)

 

水平轴

集电压/格

50mV~200V?

(×1,×0.1)

50mV~500V (×1,×0.1)?

50mV~200V (×1,×0.1)

基电压/格

50mV~2V(×1,×0.1)

50mV~5V (×1,×0.1)

50mV~2V (×1,×0.1)

GPIB介面

 

内记忆体

 

软碟机

 

 

游标读值

 

 √

绘图机输出

 

 √

 

 

 

 

2.玻璃析晶电炉/电炉  型号:HAD-SG

、概述

由于玻璃的内能较同组成的晶体为,所以玻璃处于介稳状态,在定条件下存在着自发地析出晶体的倾向。这种出现晶体的现象叫做析晶,又称失透或反玻璃化。测定玻璃析晶性能就是测定玻璃的析晶温度范围,上限和下限以及在该温度范围内玻璃的析晶程度,根据测定结果可以制定合理的溶制,成形和热制度,从而避免析晶的产生,得到透明而理想的玻璃制品。

该仪器设备采用梯度炉法测定玻璃的析晶性能,广泛应用于厂、学校、科研单位用于分析测试玻璃等非金属材料的析晶性能。对掌握其,成形具有导性作用。

二、主要参数

1、 炉膛尺寸:Φ60×1000mm(可根据用户需求订做)

炉管材料:99刚玉   

2、 炉膛zui温度:1400℃

3、 加热元件:硅碳棒  16支

4、 作温度梯度区间:400mm

2点电脑程序控温:室温~1400℃

测温热电偶:S分度号   控温2支,试样测温1支

温度梯度:20℃/cm可调

5、 试样瓷舟:99刚玉;推装置:手动

6、 观察孔直径:Φ50mm(石英玻璃)

 

 

 

3.材料耐火度测试仪/材料耐火度检测仪  型号:HAD-CJY-II

本仪器是用于测量型材料的原砂、混合料、玻璃和陶瓷原料烧结点温度、耐火度的种温、透射投影装置。它可使试验者在镜屏上清晰地看到试样在温情况下,材料试样的体积收缩、膨胀纯化及化的情况并得知各种情况发生时的相应温度。广泛用于铸、陶瓷、玻璃等行业及教学、科研。

、参数
1、试验温度温度范围: 1700℃。
2、加热速度:    1.5小时可达1700℃,也可根据需要调节。
3、影像放大倍率:8~9倍,成像画面配坐标系统可简易量化膨胀、收缩数据。
4、zui大耗:    2 KW
5、试样zui大尺寸:Ф7×8 mm
6、根据用户要求可配置CCD摄像及计算机图像处理系统,所有试验操作均计算机界面成,操作方便易学并提供套软件。 
二、仪器的组成
本仪器是由光源、钼丝炉、投影装置、电气控制箱、制样器五份组成。
1、采用12V、30W光源灯泡发光经聚光镜片聚光,整个装置在三角形导轨上,根据需要可前后移动,聚光筒上下左右亦可行调整。
2、加热采用管式电阻炉,升温速度可手动、程序控温调节,炉膛试验区温度梯度±15℃。
3、投影分:来自聚光镜的平行光线,通过炉膛,将炉膛内试样投影到投影分的放大镜头上。经棱镜折射到平镜上来,再由平镜反射到乳白毛玻璃的镜屏上,试验人员从而可清晰地看到炉内试样随温度变化而产生的收缩、膨胀、钝化及化的投影图像。
4、电气分:采用电脑温控仪行控制,使其升温速度及控制度得到很好的保证,具体操作详见其使用说明书

 

 

 

 

 

4.介电常数测试仪/介电常数检测仪  型号;HAD-STD-A

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

主要标

1.频率范围及刻度误差

范围:50KHz~50MHz共分七个波段,允许误差:+2%

  1.1:50~150KHz;         1.2:150~450KHz

   1.3:450~1500KHz;       1.4:1.5~4.5MHz

   1.5:4.5~12MHz;         1.6:12~25MHz

   1.7:25~50MHz;

2Q值测量范围及误差

范围:5~500

误差:1)当频率从5~25KHz

             量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%

2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10%

3)△Q范围:-25 ~ 0 ~ +25。

3.电感测量范围及误差:范围:0.1μH~100mH,误差:+5%+0.01μH

4.试样尺寸

圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时);

Φ25~35mm(ε=12~30时)Φ15~20mm(ε>30时)。

 

 

 

 

5.智能式压缩强度试验机/压缩强度试验机/压缩强度试验仪  型号:HAD-SGY-II

本仪器满足GB8489-87,GB/20473-2006、GB8813-2008《硬质泡沫塑料压缩性能的测定》中压缩性能检测方法及抗压强度的检测,适用于陶瓷、石材、耐火材料、硬质泡沫、保温砂浆等材料等非金属材料的抗压强度及压缩强度测试.

主要参数

1、 zui大载荷:1T、2T、5T\10T\30T选;

2、 加荷速率:50-7KN/min可调;

3、 抗压强度试样尺寸:≤Ф80mm(可根据客户要求订做其它规格尺寸);

4、可检测不同压力下的变形量,位移形变检测范围:0-40mm

5 连计算机控制,软件数据处理,并生成测试报告;

6、 三相380V。

 

 

 

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