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型号:SC-MP-2

双盘三速金相试样磨抛机

描述:SC-MP-2型双盘三速金相试样磨抛机是本公司根据用户要求新制的种新型磨抛机,该机外形新颖美观,转动平稳,噪音低,它的机架整体和集污盘、罩、盖等均采用不锈钢板制成,经久耐用,维护保养为方便,在使用时只需更换磨盘或抛光盘,就能成各种试样的粗磨、细磨、干磨、湿磨及抛光等各道序,是种为理想和善的Z佳金相制样设备。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2016-11-26
  • 访问量

    700
详细介绍
品牌恒奥德

 

双盘三速金相试样磨抛机型号:SC-MP-2


SC-MP-2型双盘三速金相试样磨抛机是本公司根据用户要求新制的种新型磨抛机,该机外形新颖美观,转动平稳,噪音低,它的机架整体和集污盘、罩、盖等均采用不锈钢板制成,经久耐用,维护保养为方便,在使用时只需更换磨盘或抛光盘,就能成各种试样的粗磨、细磨、干磨、湿磨及抛光等各道序,是种为理想和善的*金相制样设备。
主要参数

磨盘直径:250mm
砂纸直径:230mm
抛盘直径:220mm
转  速:700/900/1400rpm
电 动 机:SAD280-4/6/8 0.2kW 380v 50Hz
外形尺寸:1000×650×950mm
净  重:110kg

 

 

2.

产品名称:涂层测厚仪MiniTest3100
产品型号:MiniTest3100 /1100/2100/4100

 

涂层测厚仪MiniTest3100     型号;MiniTest3100 /1100/2100/4100

 

 
涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100   资料下载-涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
德EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用片或二片标准箔校准。

  涂层测厚仪MiniTest1100

MiniTest涂层测厚仪能
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和时间标识性的组数
-
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
-
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
-
-
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存储显示每个应用行下的所有组内数据
-
-
-
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
-
-
显示并打印测量值、打印的日期和时间
-
其他能
透过涂层行校准(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机行基础校准
补偿个常数(Offset)
-
-
外设的读值传输存储能
-
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置限值
-
-
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值
-
-
连续测量模式中测量稳定后显示读数
-
-
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示
-
连续测量模式中显示zui小值

MiniTest涂层测厚仪可选探头参数探头图示
所有探头都可配合主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的能
探头
量程
低端
分辨率
误差
zui小曲率
半径(凸/凹)
zui小测量
区域直径
zui小基
体厚度
探头尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于缘体上的有色金属覆层。

MiniTest涂层测厚仪探头图示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的缘覆层
量程低端分辨率很(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头, 别适合测粉末状的覆层厚度


F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等


F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的缘覆层
量程低端分辨率很(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的薄镀铬层

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的缘覆层
量程低端分辨率很(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

 

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