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介电常数和介质损耗测试仪 型号:HAD-Y2855
HAD-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对缘材料行频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
HAD-Y2855作频率范围是100kHz~100MHz,它能成作频率内材料的频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器般用来夹被测样品,配用Q表作为示仪器。缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
点:
本公司新的自动Q值保持,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005。
能对固体缘材料在100kHz~100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态,调谐电容值等。
Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz~70MHz(HAD-Y2852D), 50kHz~160MHz(HAD-Y2853D)测试信号。立信号源输出口,
所以本机又是台合成信号源。
测试装置符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数测试仪 型号:HAD-Y2858
HAD-Y2858系列 介电常数测试仪由频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对缘材料行低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
HAD-Y2858系列介电常数测试仪作频率范围是20Hz~1MHz,它能成作频率内对缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。
HAD-Y2858系列中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器般用来夹被测样品,配用频阻抗分析仪作为示仪器。缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp(电容值)读数通过公式计算得到。
自动菌落计数仪系统 型号:HAD-HICCA
HAD-HICCA成像装置
方便对焦的大景深1000像素(3264x2448像素)彩色拍摄仪,悬浮暗视野、背光可切换2平皿同时成像分析薄台板
自动菌落计数仪系统适应培养皿:50~180mm及A5幅面内的矩形平板,同时测定2个90mm平皿(倾注、涂布、膜滤、螺旋平皿、3M纸片)
自动菌落计数仪系统HAD-HICCA菌落计数分析
自动识别统计:菌落智能识别,自动识别大规模团状、链状粘连的长形杆菌(显微形态大片粘连的大肠杆菌、病菌孢子)及平皿上的各类菌落(含金色葡萄菌计数(标GB4789.37-2010)、大肠菌群测定(标GB/T4789.3-2010))。可自动形成批处理向导,实现键式自动计数
紫外可见智能多参数测定仪型号;HAD-3BA
紫外可见智能多参数测定仪
产品型号: | HAD-3BA | 显示模式: | 透光率(%),吸光度和浓度 |
光学系统: | 氘气灯(紫外),钨灯(可见光) | 波长范围: | 190-1000nm |
波长准确度: | ±2nm(200nm-900nm) | 波长再现性: | <0.2nm |
波长分辨率: | 0.1nm | 光谱宽带: | 4nm |
光度测量范围: | 3.0Abs(200-900nm) | 光度测量准确度: | ±0.5%T |
光度重复性: | 0.2%T | 杂散光: | <0.05%T |
光度漂移: | ±0.002A/h | 样品池兼容性: | (10nm,20nm,30nm比色皿) |
曲线数量: | 218条(160条标准曲线,58条拟合曲线) | 数据存储: | 4500个 |
显示方式: | 5.6寸彩色液晶触摸屏 | 操作界面: | 中文显示 |