导电型号检测仪

导电型号检测仪 型号：KDK-STY-3

KDK-STY—3型导电型号检测仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整导电类型测试方法的导电类型鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。

二、性能

1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：

锗：非本征锗10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整法结果可靠。

2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制

3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。

5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整法行选用硬质合金作探针。

6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供电，zui大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：约 4 kg

四探针电阻率仪 型号：KDK-KDY-4

KDK-KDY-4型四探针电阻率仪严格按照硅片电阻率测量的际标准（ASTM F84）及家标准制，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改。整套仪器有如下点：
1、配有双数字表：块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另块数字表适时监测过程中的电变化，使操作更简便，测量更。
数字电压表量程：0—199.9mV 灵敏度：100μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）
2、可测电阻率范围：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可测方块电阻范围：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、设有电压表自动复零能，当四探针头1、4探针间未有测量电过时，电压表零，只有1、4探针接触到硅片，测量电渡过单晶时，电压表才示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。
4、经硅片的测量电由度稳定（分之五度）的制恒源提供，不受气候条件的影响，整机测量度＜3%。
电量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10次），在缘电阻、电容量方面留有更大的安系数，提了测试仪的可靠性和使用寿命。
6、四探针头采用际上的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提

四探针电阻率仪

振动压实试验机 型号：HYL8-ZYC-2

振动压实试验机 

本仪器是采用表面振动压实法测定无粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的zui大干密度的试验仪器。  
1、电源电压：380V； 
2、耗电率：≤looow； 
3、振动频率：47.5Hz； 
4、激振力二2.5-4.2KN； 
5、夯板作用在试样表面静压力：13、8Kpa； 
6、试筒规格：铝制大筒个内径280mm，铝制小筒个内径152mm；

振动压实试验机 

四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A

四探针电阻率测定仪

概述
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。
它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。
为减小体积，本仪器用同块数字表测量电及阻率。样品测试电由宽的恒源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不过±3%，在此范围内达到家标准机的水平。

四探针电阻率测定仪

四探针电阻率仪  型号：KDK-KDY-1

四探针电阻率仪是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测程的电变化，免除了测量电/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电。主机还提供度为0.05%的恒源，使测量电度稳定。本机配有恒源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。

四探针电阻率仪