方块电阻测试仪

1.方块电阻测试仪  型号：HAD-DB1

方块电阻测试仪HAD-DB1本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。

HAD-DB1由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电均不相同，因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电分7档，可由0.4μA增加到大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了个摸索测试条件的宽阔空间。

由于仪器设有恒源开关，并且所有电档在探针与样品接触后均有电延时接通的能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。

HAD-DB1仪器性能

方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；

电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；

探针压力：25g～250g；

探针曲率半径：25μm～450μm

（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）；

测试电分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调

           （100mA档）    8～36V连续可调

          （1000mA档）    8～15V连续可调；

测量方式：手动或自动（配置用测试软件）；

测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。

2.振动传感器校准仪          型号；HAD-JX-3B

、能及点

可校准多种类型的振动传感器，如压电式加速度传感器、磁电式速度传感器及电涡式传感器。 

可对由上述传感器所组成的各种振动测试仪表、振动监视系统、数据采集器及振动状态分析系统行校准。 
  　校准仪内可产生10、20、40、80、160、320、640及1280Hz等八种频率的正弦信号。 
　　所输出的加速度、速度及位移三种振动信号的幅值可通过电位器改变，并有数字显示。 
    可垂直、水平两个方向使用，以校准垂直、水平传感器。 
    HAD-JX-3B型振动传感器校准仪集正弦信号发生器、率放大器、标准传感器和振动态于身，具有体积小、度、操作简单、使用方便等点，可在现场和实验室使用。

二、主要标

　输出振动信号误差 ：10、20、40、80、160、320、640、1280Hz±0.3dB±个字 
　输出频率度 ：10、20、40、80、160、320、640、1280Hz±0.01%
　输出振动幅值范围 ： 
      　大加速度：100m/s2（峰值） 
　　　大速度：170mm/s（有效值） 
　　　大位移：2mm（峰峰值） 
　 大负荷：650g
 　外形尺寸：280mm×180mm×250mm

　       重    量：7kg

3.电子拉力试验机 拉力试验机 型号：HAD-ZLD-300A

4.振动校准仪/加速度计校准仪           型号；HAD-JX-1A

、概述
　　HAD-JX-1A校准仪可以方便、准确地对压电式加速度计和整套系统行标定。该仪器机内产生个频率为79.6Hz的正弦信号，经放推动振动台做正弦振动，加速度为10m/s2;也可外接输入具有定率的正弦信号，推动振动台在50～2000Hz内振动，作激振器使用。

二、标

　　1、度：优于5%

　　2、失真度：< 1%

　　3、作频率：79.6Hz±0.5Hz(ω=500)

　　4、内发生器：

　 　　加速度：10m/s²±5%（单峰值）
　 　　速度：20mm/s（单峰值）
　 　　位移：40μm（单峰值）

　　5、外驱动发生器范围：50～2000Hz

　　6、大负荷：80克

　　7、线圈阻抗：
　 　　驱动线圈：80Ω；  速度线圈：500Ω

　　8、大振幅：±1.5mm

　　9、温度范围：10～40℃

　　10、横向运动：<10%
　　11、电源：220V±10%  耗电约5W
　　12、外形尺寸：200×180×150（mm）
　　13、重量：5公斤

5.电子橡塑拉力试验机 橡塑拉力试验机 拉力试验机 型号：HAD-XSLD

 温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的