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1.岩石磨片机 抛光磨片机 型号:HAD-G250
本机采用可控硅无调速,配有调速装置。整机为落地式,作平稳。台面不锈钢制作。选不同速度,换不同目数金刚沙分别可当抛光或磨片机用。可单用或双用。当抛光机用时,般0.2-0.3mm载波片样抛制成0.02mm-0.03mm薄片只需不到20秒。
HAD-G250岩石磨片机 抛光磨片机主要参数:
抛光盘直径:250mm
主轴转速:无调速 0-1400转/分
2.片剂硬度测试仪/片剂压碎硬度计 型号:HAD-YD3
片剂硬度测试仪是用于测量片剂的压碎硬度。
适用标准:JB/T20104-2007
标:
△ 硬度测试范围:2-200N 0.2KG-20KG
△ 分辨率:0.1N 0.01Kg
△ 硬度测量度:量程±0.5%
△ 片剂测试直径:2-40mm
△ 重复测量误差:±1%
△ 每组测试片数:≤100片
△ 度量单位: 牛顿 N
公斤力 Kgf (1Kgf=9.81N)
△ 接口:标准串行打印接口,自带微打。
△ 外形尺寸:长*宽* 500mm*400mm*160mm
片剂硬度测量仪主要点:
① 度压力传感器,保证测试的度和重现性。
② 显示选用清晰度液晶显示屏,显示内容丰富,用户可根据屏幕提示智能化操作,每个操作过程均给出汉字提示和量化标。
③ 测量方式可选: 手动单片/自动连续 。
④ 系统可实现自动压片、自动显示、自动锁存、自动复位、自动循环测试、自动线性误差修正、自动故障诊断。
⑤ 强的数据处理能力,可对试验结果行统计、分析、打印、显示。可为您提交测试样本的大值、小值、标准偏差和变化范围的报告。
⑥ 自动计算退片行程,压缩您的测试占空时间。
⑦ 度量单位键转换(牛顿-公斤)。
⑧ 新型前换纸微型打印机。
3.无线压电互感器变比测试仪 型号:HAD-9500
产品点
测量:低压电互感器二次回路的电、变比、比差、角差、相别、性、漏电在线测试监控;变压器两侧电大小、变比在线测试监控;空电、漏电测试;二次回路核相、相序判断能。
无线压变比测试仪突破传统结构,为测量低压二次回路的电、变比、漏电而心制的,采用CT及掩膜数字集成,由用压检测仪、低压电钳、主机、压缘杆、监控软件等组成,其无线传送测试数据能穿透多层楼房障碍,直线传输距离达300米。若不使用缘杆,还可以当作度低压钳形电表、漏电表使用,能准确测出0.01mA~1000A的电或漏电。
能 | 低压电互感器二次回路的电、变比、比差、角差、相别、性、漏电在线测试监控;变压器两侧电大小、变比在线测试监控;空电、漏电测试;二次回路核相、相序判断能 |
电 源 | DC6V 碱性干电池(1.5V AAA×4) |
测试方式 | 钳形CT |
传输方式 | 无线传输,直线传输大距离约30m |
显示模式 | LCD:128dots×64dots; |
LCD尺寸 | 显示域:44mm×27mm |
仪表尺寸 | 主机:宽厚75mm×170mm×30mm |
钳口尺寸 | 压电钳:φ48mm |
采样速率 | 约2次/秒 |
测量范围 | 压检测仪:0.1mA~1000A |
分 辨 率 | 压电钳:0.1mA |
换 档 | 0.01mA~1000A自动换档 |
次回路测试度 | ±1%±3dgt (23℃±3℃,80%RH以下) |
二次回路测试度 | ±0.5%±3dgt(23℃±3℃,70%RH以下) |
变 比 | 1:1千(1.0K7) |
数据存储 | 2800组,按HOLD键保持数据并自动编号存储(掉电或更换电池不会丢失数据) |
线路电压 | 60KV以下线路测试(带5节缘杆操作) |
数据保持 | 按HOLD键保持数据,HOLD符号显示,再按HOLD键取消保持 |
数据查阅 | 按HOLD键+POWER键可以入数据查阅模式 |
溢出显示 | 量程溢出能:“OL A”符号显示 |
无信号示 | 当主机没有收到发射信号时提示“无信号” |
自动关机 | 开机约15分钟后,仪表自动关机,以降低电池消耗(可以取消自动关机能) |
电池电压 | 当电池电压低于4.8V时,电池电压低符号显示,提醒更换电池 |
仪表质量 | 主机:约240g(含电池) |
外界干扰 | 无强电磁场;无433MHz同频干扰 |
作温湿度 | -25℃~45℃; 80%Rh以下 |
存放温湿度 | -10℃~60℃; 70%Rh以下 |
缘杆尺寸 | φ32mm,1m/节(5节) |
低压电钳引线长 | 标准2米(可以根据现场距离加长,实现0~50米远距离在线监控) |
缘强度 | 压检测仪:AC100kV/rms (5节缘杆与压电钳钳芯之间) |
结 构 | 防滴漏Ⅱ型(压检测仪) |
4.活性炭粒度测定仪/活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪 型号:HAD-LD3
主要件及主要参数:
测颗粒粒度测定仪的主要件及参数
l 转速:150±2r/min
转轴偏心距:20 ±1mm
2.定时器
3.电压:220V 率:0.5KW
5.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成:由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入;具有零位、满度自校能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头点与选型参考》入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
电 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
方块电阻: 0.050~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
直 径:HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长()度:测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.
量程划分及误差等
量程(Ω-cm/□) | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
电阻测试范围 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
电阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 适配器作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重:≤0.3kg
温馨提示:以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的