半辐射率综合检测仪

1.半辐射率综合检测仪 型号：HAD-GAF

半辐射率综合检测仪 HAD-GAF适用标准：
GB/T2680-94《建筑玻璃可见光透射比、太阳光直接透射比、太阳能总透射比、紫外线透射以及有关窗玻璃参数的测定》；
ISO9050-1990《建筑玻璃可见光透射比、太阳光直接透射比、太阳能总透射比、紫外线透射以及有关窗玻璃参数的测定》；
ISO9050-2003《建筑玻璃光透率、日光直射率、太阳能总透射率及紫外线透射率及有关光泽系数的测定》；
JGJ/T151-2008《建筑门窗玻璃幕墙热计算规程》；
HAD-GAF参数：
光度项目 标
设备尺寸 1200mm×620mm×320mm
检测方法 光学测量法
光学波长范围 190～3600nm（4.5um-25um）
光度准确度 ≤0.8%
波长准确度 ±0.3nm（开机自动校准）
波长重复性 ≤0.1nm
自动光谱带宽 1、2、5、10、50nm
杂散光 < 0.01% （220nm，Nal；340nm，NaNO2）
光源转换（紫外、可见、近红外段） 自动切换（可在200nm～850nm～2600nm～3600nm波段范围内自动设定）
光源（远红外） 2.5um-35um覆盖范围
光学测试附件 积分装置、反射测量装置、半积分
光度范围 -4.0～4.0A
光度准确度 ±0.002A（0～0.5A）
 ±0.004A（0.5～1A）
光度重复性 ±0.3%T（0～T）
 0.001A（0～0.5A）
 0.002A（0.5～1A）
光度基线平直度 ±0.001A（190～1000nm）
 ±0.005A（1000～3600nm）
光度基线漂移 0.0004A/h（500nm，0A，预热后）
噪声 ±0.0004A

建筑玻璃测试标 检测依据 GB/T2680-94；　　 JGJ/T151-2008
 紫外光透射比、反射比；
可见光透射比、反射比；
太阳光直接透射比、直接反射比；
太阳光直接吸收比、太阳能总透射比；
遮阳系数；遮蔽系数；半辐射率(选 配）；

主要点：
1.强劲的仪器性能：其优良的光学系统，的电子学系统，水准的机械系统，保证了0.010%T的低杂散光，度PID温度控制及24位电压数字采样。
2.稳定可靠的：双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性，氘灯、光电倍增管等关键器件均用口件，保证仪器的稳定可靠和长寿命。
3.的测量：采用口优质息光栅，步降低仪器的杂散光，使仪器分析更加准确。
4.轻松效的人机对话：基于Windows环境的GAF系列智能型建筑玻璃紫外光透射比、反射比、可见光透射比、反射比、太阳光直接透射比、直接反射比、太阳光直接吸收比、太阳能总透射比、遮阳系数、遮蔽系数、半辐射率等中文操作软件，提供了丰富的仪器控制和操作能，简单易用，灵活效，轻松满足使用者的分析需求。
5.优异的可扩展性：反射光学积分可选用附件、建筑玻璃遮阳系数用反射装置，使仪器的应用范围大大扩展。
6.设备维护简单方便：的插座式钨灯和氘灯，换灯时免去光学调试，使设备仪器调试、维护更加简单方便。
7.日志记录能：自动记录用户的操作；日志文件采用更为可靠的数据库格式保存；管理员可对日志行分类查阅和其他处理。
8.采用综合的光学及半辐射体测试系统，性价比，便于测试。
9.质量控制能：可根据用户的设置对测量数据行监控；出控制范围的数据系统将会显示提示信息、行颜色标记或自动重新测量。
10.报告输出能：可实现与其他系统共享数据的能；可将测量结果保存为Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可对报告格式行个性化的设置；可提前预览结果报告的打印效果。

2.螺线管磁场测定组合仪 型号:HADHL-IV

用途和目的：

* 本仪器通过实验可验证霍尔电、霍尔电压、励磁电三者的关系。测定螺线管内外磁场强度分布，并可利用中心点磁感应强度理论值来校准霍尔传感器的灵敏度。

* 仪器实验装置上所有转换开关军采用可靠性继电器来转换物理参量的方向，安可靠，操作方便，地延长了仪器的使用寿命。

参数及点：

* （GaAs）霍尔传感器，N型半导体材料

* 作电：1s=0～100mA

* 霍尔元件灵敏度：大于10V/A.T

* 螺线管恒源：0～1.2A

3.纳米微粒制备实验仪 型号:DP-219

本实验仪采用电阻加热、气体冷凝法制备纳米微粒。采用真空泵对反应仓行真空抽吸，并利用惰性气体行置换。原材料在真空反应仓被加热至蒸发温度时蒸发成气相。气相的原材料原子与惰性气体的原子（两分子）碰撞，迅速降低能量而骤然冷却，形成原子簇，然后生长成纳米微晶，终在收集器上收集到纳米粒子。

标：

1、适用气体：氮气、氩气、氦气和空气。

2、压力范围：0.01Kpa～120Kpa

3、加热率：0～200W

4、数字显示，含真空泵。

4.光速测定仪/光速检测仪 型号:HADCY-IV

本仪器由光学系统和信号处理系统两分组成，它根据光拍频原理，通过光电转换检测，在普通示波器上同时观察和两束光的波形和相位，测量光程差和位相差，求得光速。

采用新的分频、触发措施，能在示波器上观察到、清晰的波形。

实验误差＜±5‰(位相差=2n时)

频率≈35MHz

激光管波长：6328Å

率＞1.5mW

连续作时间：≥20h

体积：1480×420×270mm³，适合普通桌面

5.磁天平/不锈钢，分体式磁天平 型号:HAD-CTP-II

采用古埃法测量顺磁和逆磁磁化率。主要结构有：电磁铁和恒电源；数字式斯计；配有照明系统的控制盘。系统采用了PID电子调节，数字电源（0～10A无调节），水冷却，使得仪器动态运行更加稳定可靠，防止因操作不当而成仪器损坏。

二、标：

* 磁铁

型式：古埃型、单轭铁

磁柱直径φ40mm；磁隙宽度0～40mm（可调）；

磁场强度0.000～0.85T（d＝20mm），分辨率：0.1mT；

磁场均匀度＜1.5%（D＝20mm，d＝20mm）；

磁场稳定度＜1%hr；励磁电范围0～10A（可调）

分辨率：0.01A

励磁线圈作温度＜60℃

* 测磁系统：使用霍尔探头的斯计

* 耗300W

* 天平灵敏度＜0.1mg（选配）

 温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的