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产品型号:
HAD-3
产品名称:
手持式四探针测定仪
产品报价:
产品特点:
手持式四探针测定仪 型号:HAD-3 运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.DP 标准。
  HAD-3手持式四探针测定仪的详细资料:

手持式四探针测定仪 方块电阻测定仪 电阻率测定仪 型号:HAD-3

概述
手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.DP 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、手持式四探针测定仪基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
   阻:     0.010 50.00kΩ,     分辨率0.001 10 Ω
率:     0.010 20.00kΩ-cDP 分辨率0.001 10 Ω-cDP
方块电阻:     0.050 100.00kΩ/□   分辨率0.001 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
   径:圆测试台直接测试方式 Φ15130DPDP
方测试台直接测试方式180DPDP×180DPDP
()度:测试台直接测试方式 H≤100DPDP.
测量方位: 轴向、径向均可.

量程划分及误差等级

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

电阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k/100.0k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

  重:≤0.3kg


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