型号：GSZ-ST-20

方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪

描述：方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。

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品牌	恒奥德

方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪型号：GSZ-ST-20

方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等物质的薄层电阻。

◆ 点：

采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要分，测量准确稳定

低耗

采用单个电池供电，带电池欠压示

仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm

制之手握式探笔，形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块

◆ 标：

产品名称：锥入度仪
产品型号：HA-WZR

锥入度仪型号：HA-WZR

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