四探针测试仪 测试仪 型号:GSZ-RTS-3 手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。 术 标 : | | 测量范围 | 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 方块电阻:0.1~19999Ω/□; | 恒源 | 电量程分为100μA、1mA两档,两档电连续可调 | 数字电压表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 输入阻抗:>1000MΩ; 度:±0.1%; 显示:以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;性、量程自动显示; | 四探针探头基本标 | 间距:1±0.01mm; 针间缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%; 探针:碳化钨或速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力); | 四探针探头应用参数 | (见探头附带的合格证) | 模拟电阻测量相对误差 | 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 | 整机测量zui大相对误差 | (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5% | 整机测量标准不确定度 | ≤5% | 外型尺寸 | 185mm(长)*90mm(宽)*30mm() | 重量 | 350g | 电源 | 锂电池,次充电可连续使用100小时; | 标准使用环境 | 温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无频干扰; 无强光直射; |
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2. | 产品名称:数字熔点仪 熔点仪 产品型号:HA-WRS-2
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数字熔点仪 熔点仪 型号:HA-WRS-2 点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显示,屏幕直接显示熔化曲线。有RS232接口。 主要参数: 熔点测定范围:室温~300℃ 温度显示zui小示值:0.1℃ 线性升温速率: 0.2℃/min, 0.5℃/min, 1℃/min, 1.5℃/m2℃/min, 3℃/min, 4℃/min, 5℃/min八档 测量准确率:< 200℃: ±0.5℃, ≥200℃: ±0.8℃ 仪器重量:11kg 仪器尺寸:398×280×170(mm) |