描述:方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。
厂商性质
更新时间
访问量
我们相信好的产品是信誉的保证!
电工仪器仪表
致力于成为更好的解决方案供应商!
方块电阻测试仪 电阻测试仪 测试仪 型号:GSZ-ST-20
方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。
2.
锥入度仪 型号:HA-WZR
TEL:15010245973