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H8551土肥测试仪/土肥养分速测仪/土肥养分测试仪/土肥养分检测仪/土肥养份速测仪
★ 按当地情况设定作物品种、作物产量、肥料品种,并自动计算出施肥量。 ★ 采用液晶中文大屏幕背光显示,中文菜单提示操作,使用人员看即会。 ★ 检测土壤、植株、化学肥料、生物肥料等样品中的*氮、*磷、有效钾、氮、磷、钾、有机质含量,土壤酸碱度及土壤含盐量。 ★ 旋转比色测试装置,可同时测多个样品,为*。本仪器带有自动充电能,交、直两用,可行野外动测试,仪器主机自备内置式微型打印机,可通过本机将测试结果数据打印出来。
KDK-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。 它主要由电器测量份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。 为减小体积,本仪器用同块数字表测量电及阻率。样品测试电由宽的恒源提供,随时可行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。
KDK-KDY-4四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率仪KDK-KDY-4
KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的际标准(ASTM F84)及家标准制,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改。
NDJDZ3500炭黑含量测试仪/炭黑测试仪/炭黑含量测定仪/碳黑含量测定仪
该仪器适用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的测定。 炭黑的测试是通过试样在氮气保护下,温分解后的重量分析得到的。 该仪器具有使用方便,操作简单,作可靠,测量准确,自动控温等优点。
QSY-TFC-1B土肥测试仪/土肥速测仪/土壤肥料测试仪/土肥养份测试仪/土壤养份测试仪/土壤养分测试仪/土壤分析仪
★ 检测土壤、植株、化学肥料、生物肥料等样品中的*氮、*磷、有效钾、氮、磷、钾、有机质含量。 ★ 养分比色与标准液同时行,浓度直读,直接查表即知施肥量,不需绘制曲线。 ★ *采用旋转式封闭六比色暗盒(家),提效6倍以上,避免反复调整仪器。次调零转动比色槽可测四个样品,只需几分钟。
YY9-SOX2数字欧姆表/毫欧表
是传统的QJ23型、QJ24型、QJ57型等单臂电桥的换代新产品。主要用于电线、 电缆行业,电机,变压器,电器等产品的直电阻测试。
YDSOJ—2数字微欧计/微欧计
该数字微欧计是替代传统的QJ44型双臂电桥的新产品。主要用于测量变压器、电动机、电线、电缆的直电阻
XY-PTI-1光源预热时间测试仪 预热时间测试仪 测试仪
光源预热时间测试仪为电脑自动测试仪器,可以行光源的预热时间的测试,适合在水线上快速、方便地测出光源的预热时间。
XY-XYL-XI背投影机光色参数快速测试仪 快速测试仪 测试仪
仪器预设标准A光源及D65光源文件,并可根据用户需求,由用户意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差,达到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量度达到际水平。
XY-XYI-XI正投影机光色参数快速测试仪 快速测试仪 测试仪
仪器预设标准A光源及D65光源文件,并可根据用户需求,由用户意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差,达到屏幕的总光通量、屏幕的光通量不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量度达到际水平。
XY-HA1LED光强分布测试仪 光强分布测试仪 测试仪
LED光强分布测试仪用于LED发光强度曲线分布测量。可为LED提供各种电参数,该仪器具有计算机控制电调节,可自动快速测量等点。
GSZ-CV-2000电容电压性测试仪 性测试仪 测试仪
GSZ-CV-2000型电容电压性测试仪是测试频率为1MHz的智能化数字的电容测试仪器,用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量,也可测试其它电容。
GSZ-RTS-7二探针测试仪 测试仪
该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,用于测试半导体材料纵向电阻率的用仪器。 仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
GSZ-SP-601方型四探针探头 四探针探头 探头
方型四探针探头是种门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头,用于测量小样品的四探针探头,可用于般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。
GSZ-SRM-232方块电阻测试仪 电阻测试仪 测试仪
方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
GSZ-XX-2方块电阻测试仪 电阻测试仪 测试仪
方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
GSZ-RTS-3四探针测试仪 测试仪
仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
GSZ-ST-20方块电阻测试仪 电阻测试仪 测试仪
方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。
GSZ-ST-21方块电阻测试仪 电阻测试仪 测试仪
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成度稳源;带回路有效正常示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的点。
GSZ-SDY-5双电测四探针测试仪 四探针测试仪 针测试仪
双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量,利用电探针、电压探针的变换,行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提了测量结果的准确度。
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