电阻测量仪表,电阻测量仪表厂家-北京恒奥德仪器仪表有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	H8551土肥测试仪/土肥养分速测仪/土肥养分测试仪/土肥养分检测仪/土肥养份速测仪	★ 按当地情况设定作物品种、作物产量、肥料品种，并自动计算出施肥量。 ★ 采用液晶中文大屏幕背光显示，中文菜单提示操作，使用人员看即会。 ★ 检测土壤、植株、化学肥料、生物肥料等样品中的氮、磷、有效钾、氮、磷、钾、有机质含量，土壤酸碱度及土壤含盐量。 ★ 旋转比色测试装置，可同时测多个样品，为*。本仪器带有自动充电能，交、直两用，可行野外动测试，仪器主机自备内置式微型打印机，可通过本机将测试结果数据打印出来。
	KDK-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪四探针电阻率测试仪四探针电阻率检测仪四探针电阻率测定仪	便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电及阻率。样品测试电由宽的恒源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。
	KDK-KDY-4四探针电阻率测试仪四探针电阻率检测仪四探针电阻率仪KDK-KDY-4	KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的际标准（ASTM F84）及家标准制，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改。
	NDJDZ3500炭黑含量测试仪/炭黑测试仪/炭黑含量测定仪/碳黑含量测定仪	该仪器适用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的测定。炭黑的测试是通过试样在氮气保护下，温分解后的重量分析得到的。该仪器具有使用方便，操作简单，作可靠，测量准确，自动控温等优点。
	QSY-TFC-1B土肥测试仪/土肥速测仪/土壤肥料测试仪/土肥养份测试仪/土壤养份测试仪/土壤养分测试仪/土壤分析仪	★ 检测土壤、植株、化学肥料、生物肥料等样品中的氮、磷、有效钾、氮、磷、钾、有机质含量。 ★ 养分比色与标准液同时行，浓度直读，直接查表即知施肥量，不需绘制曲线。 ★ *采用旋转式封闭六比色暗盒（家），提效6倍以上，避免反复调整仪器。次调零转动比色槽可测四个样品，只需几分钟。
	YY9-SOX2数字欧姆表/毫欧表	是传统的QJ23型、QJ24型、QJ57型等单臂电桥的换代新产品。主要用于电线、电缆行业，电机，变压器，电器等产品的直电阻测试。
	YDSOJ—2数字微欧计/微欧计	该数字微欧计是替代传统的QJ44型双臂电桥的新产品。主要用于测量变压器、电动机、电线、电缆的直电阻
	XY-PTI-1光源预热时间测试仪预热时间测试仪测试仪	光源预热时间测试仪为电脑自动测试仪器，可以行光源的预热时间的测试，适合在水线上快速、方便地测出光源的预热时间。
	XY-XYL-XI背投影机光色参数快速测试仪快速测试仪测试仪	仪器预设标准A光源及D65光源文件，并可根据用户需求，由用户意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差，达到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量度达到际水平。
	XY-XYI-XI正投影机光色参数快速测试仪快速测试仪测试仪	仪器预设标准A光源及D65光源文件，并可根据用户需求，由用户意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差，达到屏幕的总光通量、屏幕的光通量不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量度达到际水平。
	XY-HA1LED光强分布测试仪光强分布测试仪测试仪	LED光强分布测试仪用于LED发光强度曲线分布测量。可为LED提供各种电参数，该仪器具有计算机控制电调节，可自动快速测量等点。
	GSZ-CV-2000电容电压性测试仪性测试仪测试仪	GSZ-CV-2000型电容电压性测试仪是测试频率为1MHz的智能化数字的电容测试仪器，用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。
	GSZ-RTS-7二探针测试仪测试仪	该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测试半导体材料纵向电阻率的用仪器。仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
	GSZ-SP-601方型四探针探头四探针探头探头	方型四探针探头是种门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，用于测量小样品的四探针探头，可用于般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。
	GSZ-SRM-232方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪	方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
	GSZ-XX-2方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪	方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
	GSZ-RTS-3四探针测试仪测试仪	仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
	GSZ-ST-20方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪	方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。
	GSZ-ST-21方块电阻测试仪电阻测试仪测试仪	该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成度稳源；带回路有效正常示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的点。
	GSZ-SDY-5双电测四探针测试仪四探针测试仪针测试仪	双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量,利用电探针、电压探针的变换，行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，从而提了测量结果的准确度。

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