光源预热时间测试仪为电脑自动测试仪器，可以行光源的预热时间的测试，适合在水线上快速、方便地测出光源的预热时间。

仪器预设标准A光源及D65光源文件，并可根据用户需求，由用户意设定存储标准光源。仪器可根据不同参考光源自动修正探测器的光谱参数误差，达到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均匀性、色品坐标和色温的测量。其测量度达到际水平。

LED光强分布测试仪用于LED发光强度曲线分布测量。可为LED提供各种电参数，该仪器具有计算机控制电调节，可自动快速测量等点。

GSZ-CV-2000型电容电压性测试仪是测试频率为1MHz的智能化数字的电容测试仪器，用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。

该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测试半导体材料纵向电阻率的用仪器。 仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

方型四探针探头是种门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，用于测量小样品的四探针探头，可用于般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。