方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成度稳源；带回路有效正常示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的点。

双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量,利用电探针、电压探针的变换，行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，从而提了测量结果的准确度。

双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电探针、电压探针的变换，在计算机控制下行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提

双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电探针、电压探针的变换，在计算机控制下行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提