该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测试半导体材料纵向电阻率的用仪器。 仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

方型四探针探头是种门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，用于测量小样品的四探针探头，可用于般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。

仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。