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  • GSZ-RTS-2四探针测试仪     测试仪
    GSZ-RTS-2四探针测试仪 测试仪

    仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

    更新时间:2024-04-12型号:GSZ-RTS-2浏览量:1336
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  • GSZ-SDY-4四探针测试仪   测试仪
    GSZ-SDY-4四探针测试仪 测试仪

    仪器以大规模集成电路为核心件,采用平面轻触式开关控制,及各种作状态LED示.应用微计算机,利用GSZ-HQ-710E型测量数据处理器,使得测量读数更加直观、快速,并能实现晶片厚度自行修正,打印出预置和测量、计算数据。整套仪器体积小、耗低、测量度、测试速度快、稳定性好、易操作。

    更新时间:2024-04-12型号:GSZ-SDY-4浏览量:1393
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  • GSZ-RTS-8四探针测试仪   测试仪
    GSZ-RTS-8四探针测试仪 测试仪

    四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。

    更新时间:2024-04-12型号:GSZ-RTS-8浏览量:1098
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  • BTS-CS-1A-8动态应变测量系统   应变测量系统
    BTS-CS-1A-8动态应变测量系统 应变测量系统

    BTS-CS-1A-8动态应变仪采用了的应变测试电路及口性能电子器件,成为我代动态性能应变仪,并跨入了际水平的行列。本仪器配接不型的应变片及应变片式传感器,可以实现应力、拉压力、速度、加速度、位移、扭矩等多种物理量的测量。点是:自动平衡,通道多,重量轻,体积小,便于携带和搬运。

    更新时间:2024-04-12型号:BTS-CS-1A-8浏览量:1317
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  • BTS-CM-1J-32静态应变测量系统   数字静态应变仪  测量系统
    BTS-CM-1J-32静态应变测量系统 数字静态应变仪 测量系统

    BTS-CM-1J-32型数字静态应变仪是我公司研制的代静态应变仪,标已达到内现阶段静态应变测量的Z水平。它主要基于单片机的应用,数字智能化,测量能丰富,采用电子开关,避免了因机械开关和继电器氧化、老化后接触不良而成的测量误差。

    更新时间:2024-04-12型号:BTS-CM-1J-32浏览量:1582
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  • HAB8-ZHZ4C数字耐电压缘电阻测试仪    耐电压缘电阻测试仪    缘电阻测试仪
    HAB8-ZHZ4C数字耐电压缘电阻测试仪 耐电压缘电阻测试仪 缘电阻测试仪

    本仪器为数字显示耐电压缘电阻测试仪,可同时显示输出电压,电及缘电阻值。 报警电设定无可调,具有声光报警能。仪器只需次接线即可自动成二项组合测试。  

    更新时间:2024-04-12型号:HAB8-ZHZ4C浏览量:1299
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