该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成度稳源；带回路有效正常示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的点。

双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量,利用电探针、电压探针的变换，行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，从而提了测量结果的准确度。

双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电探针、电压探针的变换，在计算机控制下行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提

双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电探针、电压探针的变换，在计算机控制下行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提

仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶（多晶）厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

仪器以大规模集成电路为核心件,采用平面轻触式开关控制,及各种作状态LED示.应用微计算机，利用GSZ-HQ-710E型测量数据处理器，使得测量读数更加直观、快速，并能实现晶片厚度自行修正，打印出预置和测量、计算数据。整套仪器体积小、耗低、测量度、测试速度快、稳定性好、易操作。