型号：GSZ-RTS-3

四探针测试仪测试仪

描述：仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

厂商性质
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更新时间
2024-04-12
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品牌	恒奥德

四探针测试仪测试仪型号：GSZ-RTS-3

手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

　术　　标 ：

测量范围	电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；方块电阻：0.1～19999Ω/□；
恒源	电量程分为100μA、1mA两档，两档电连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；度：±0.1%；显示：以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；性、量程自动显示；
四探针探头基本标	间距：1±0.01mm；针间缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿（总力）；
四探针探头应用参数	（见探头附带的合格证）
模拟电阻测量相对误差	1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差	（用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试）≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
外型尺寸	185mm（长）90mm（宽）30mm（）
重量	350g
电源	锂电池，次充电可连续使用100小时；
标准使用环境	温度：23±2℃；相对湿度：≤65%；无频干扰；无强光直射；

产品名称：数字熔点仪熔点仪
产品型号：HA-WRS-2

数字熔点仪熔点仪型号：HA-WRS-2

点：测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测，数字键盘输入，大屏幕背光液晶显示，屏幕直接显示熔化曲线。有RS232接口。

主要参数：
熔点测定范围：室温～300℃
温度显示zui小示值：0.1℃
线性升温速率： 0.2℃/min， 0.5℃/min， 1℃/min， 1.5℃/m2℃/min， 3℃/min， 4℃/min， 5℃/min八档
测量准确率：< 200℃： ±0.5℃， ≥200℃： ±0.8℃
仪器重量：11kg
仪器尺寸：398×280×170(mm)

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