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主机采用界L的电路,所测数值更、更快、更准(代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。
双电测四探针测试仪/四探针测试仪/四探针检测仪/双电测四探针测定仪/双电测四探针电阻率测试仪 型号:GSZ-RTS-9 双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电探针、电压探针的变换,在计算机控制下行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C 概述 HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美
片剂硬度测试仪/片剂硬度计/片剂直径测试仪 型号:HAD-YD2 片剂硬度测试仪是用于测量片剂的压碎硬度。 适用标准:JB/T20104-2007 标: △ 硬度测试范围:2-200N 0.2KG-20KG △ 分辨率:0.1N 0
双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪 型号:HAD-2263 概述 HAD-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电探针、电压探针的变换,行两次电测量,对数据行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距