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该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器
片剂硬度测试仪/片剂硬度计/片剂直径测试仪 型号:HAD-YD2 片剂硬度测试仪是用于测量片剂的压碎硬度。 适用标准：JB/T20104-2007 标: △ 硬度测试范围：2-200N 0.2KG-20KG △ 分辨率：0.1N 0
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