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四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试用仪器
仪器由主机、测试探头(可选配测试台)等分组成,测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒源,分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试用仪器。
数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C 概述 HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美
双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪 型号:HAD-2263 概述 HAD-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电探针、电压探针的变换,行两次电测量,对数据行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距