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该产品是采用单片机、度、示值稳定、耗低、操作简单方便、单探头量程测量等优点 ; 具有读出、低电压示等能 , 其性能达到当代仪器水平。
本仪器是种小型测量仪，它能快速、无损伤、地行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制业、金属业、化业、商检等检测域。由于该仪器体积小、测头与仪器体化，别适用于程现场测量。 本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法
能 测量导磁物体的非导磁涂层的厚度 测量范围 0～6000um 分辨率 0.1/1 准确度 ±(1～3%n)或±2um 电源 4节5号电池 外形尺寸 161X69X32 应用 应用:测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。广泛用于制业、金属业、化业、商检等检测域。
型 号 主要参数 SP/CM8825 SP/CM8825 SP/CM8825 SP/CM8825 SP/CM8825 SP/CM8825 探头形式 体式 分体式 适用基材 铁基 铁基 非铁基 非铁基 铁基 铁基 非铁基 非铁基 标准配置测量范围 0-1250μm/0-50mil 分辨
（分体传感器涂层测厚仪） 能： 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 测量方法：F 磁感应 NF 涡 测量范围：0～200um/500um/1000um/～15000um
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