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便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。 它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。 为减小体积，本仪器用同块数字表测量电及阻率。样品测试电由宽的恒源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。
KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的际标准（ASTM F84）及家标准制，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改。
ZF-SYC-2B型液体介质电阻率测试仪符合DL421标准要求，是在本公司原有液体介质电阻率测试仪基础上发展而成的新型仪器.除了保证原有仪器的优点外,在仪器的可靠性、准确性、自动化程度、人机作界面等方面都有根本的改观
仪器为体化结构，包括体积电阻率测量、计算机通讯系统及油杯、加热控制系统四份组成。采用中频感应加热，加热升温速度快，室温加热至控温（90℃）并恒温自动测量只需15分钟；可以同时测量油介损及体积电阻率或选项。
KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我家标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会（ASTM）的材料验收检测方法“两探针法”。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率，测样长度与截面Z大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电是从长棒两端出，远离电压测量探针，因此电过金属与半导体接触处产
数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C 概述 HAD-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美
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