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型号:LK-HT-228

磁电阻效应实验仪

描述:磁电阻效应是近年来的热门课题,并已有广泛的应用。本实验仪主要供学生在实验室测量巨磁电阻材料的磁电阻之用。基本配置包括电磁铁、大电恒源、数字恒源、数字微伏表、数字斯拉计、样品、四探针夹具等。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2018-04-15
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1.磁电阻效应实验仪 型号:LK-HT-228

磁电阻效应是近年来的热门课题,并已有广泛的应用。本实验仪主要供学生在实验室测量巨磁电阻材料的磁电阻之用。基本配置包括电磁铁、大电恒源、数字恒源、数字微伏表、数字斯拉计、样品、四探针夹具等。

主要标:

1.恒电源      0~10mA可调,三位半数字显示,分辨率10uA,稳定度0.5%

2.数字电压表   测量范围0~20mV,四位半数字显示,分辨率1uV,度1%

3.磁场电源      0~6A可调,三位半数字显示,稳定度0.5%  可换向

4.数字斯拉计   测量范围0~2000mT,四位半数字显示,分辨率0.1mT,度1%



2.电子天平   型号;HA-JA5003N

称量范围:0-510g
zui小读数:1mg                               
秤盘尺寸:Φ110mm
输出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
电源及耗:AC220V50Hz
具有自动故障检测、自动校准、载保护、
计数、百分比、单位转换多种能
自动内校型能提供更方便操作


3. 电子天平   型号;HA-JA4003N

称量范围:0-410g
zui小读数:1mg                               
秤盘尺寸:Φ110mm
输出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
电源及耗:AC220V50Hz
具有自动故障检测、自动校准、载保护、
计数、百分比、单位转换多种能
自动内校型能提供更方便操作



4. 相位法光速测量仪 光速测量仪 型号:LK-LM2000A

对激光光束直接行100MHz的频调制,移动反光镜通过测量近程光与远程光的相位差求得调制光的波长,依据C=f?λ计算出光的传播速度,即“相位法"。仪器长0.8m,采用半导体器件,性能稳定可靠。

测量方法:相位法

    仪器长:0.8m

可变光程:0 – 1m

移相范围: -

分辨率:  0.2mm

    调制频率:100MHz

测相频率:455KHz

频率稳定度:

测量度:小于等于3%

    波形幅度起伏小于等于5%

实验内容扩展性:  

1)  含光电接收电平示插口和模拟通信接口,可开设模拟激光通信实验(需增购模拟通信收/发器)

测量透明介质的折射率 / 介质中光速的测量(需增购透明介质棒/管)



5.电子天平   型号;HA-JA3003N

称量范围:0-310g
zui小读数:1mg                               
秤盘尺寸:Φ110mm
输出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
电源及耗:AC220V50Hz
具有自动故障检测、自动校准、载保护、
计数、百分比、单位转换多种能
自动内校型能提供更方便操作



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