空气现场硫化氢速测仪

1.空气现场硫化氢速测仪/便携式硫化氢速测仪/便携式硫化氢检测仪/硫化氢测定仪 型号：XT18-
GDYK-101S
仪器点：
* 标方法亚甲基兰法（GB/11742-89）
* 可同时显示出硫化氢的浓度和吸光度值
* 内置充电电池，适用于室内和野外现场样品中游离硫化氢浓度的定量测定
* 采用单片机控制，具有光谱数据处理能
* 大屏幕液晶中文显示，单片机智能控制，人机交互式操作, 具有测量、设置、记录、保存和数据统计处理能
* 化学试剂包显色，样品和试剂用量少，防止并减少了二次污染
* 实时显示环境温度，可设定显色时间，便于实验操作
* 现场比色读出空气中硫化氢的含量
* 测定下限：0.01mg/m3
* 测定范围：0.00-1.00mg/m3
* 测量度：5%
配置：
* 主机1台
* 大气采样器1台
* 样品前处理器具1套
* 微机接口和数据处理软件1套
* 试剂套（100次）

2.四探针程控电动测试架/远程电动检测设备/程控电动测试架  型号：KDK-KDDJ-2

KDK-KDDJ-2型电动架是使用步电机驱动，采用单板机可编程控制，操作方便，可随意调节探头的下降zui低点，上升zui点固定，探头在zuizui低点的停留时间范围广（从0-19秒）。硅片硅锭均可测量，普通硅锭测量度为180mm（可按用户要求加），测试台zui大直径200mm，不能旋转和移动。

2、使用方法

电机在电源开关接通和按停止按钮后自动上升至zui点，入备用状态。

（1）自动： 按自动按钮电机就按设定自动上升和下降。上升的zui点是固定不变的，下降的zui低点可以随意调节，在zui和zui低点的停留时间是可调的。当电机入自动状态时按其他能按钮均无效，如需停止运行行其它操作，按下停止按钮1秒即可。

（2）手动： 按下手动按钮电机就下降至当前设定的zui低点，再按下就上升至zui点。

注：如需重新设定zui低点时，设定结束后按停止按钮再行手动做。如在刚设定好zui低点后直接按手动按钮探头会下降到导轨的zui低点，（行程开关接通为止）可能会对被测试物品成损坏。

（3）定位： 当需要重新修改探头下降的zui低点时，设备在备用状态下才可行修改，修改前要把以前的数据清除掉，按定位清0即可。之后按定位按钮，每按下探头就往下移动0.5mm，数据自动加1，zui大数据约为70-80，到达导轨的zui低点时行程开关接通数据自动回0，再按定位按钮无效。探头下降的zui低点设定好后按停止按钮1秒，就可以行自动或手动操作。

（4）定位清0：在需要重新设定探头下降zui低点时使用，按下后清除原有数据源方便重新设定。

（5）上延时： 设定探头在上升至zui点时需要停留的时间，按上延时按钮能窗口显示UP，这时按        调整到需要时间。时间调节范围从0-19秒，每按次数据自动+或-1（范围为0-95），对应时间约为1≈0.2秒，时间设定好后再按上延时按钮确定。

（6）下延时： 设定探头在下降至zui低点时探头需要在被测样品上的停留时间，按下延时按钮能窗口显示d∩，这时按        调整到需要时间。时间调节范围从0-19秒，每按次数据自动+或-1（范围为0-95），对应时间约为1≈0.2秒，时间设定好后再按下延时按钮确定。

（7）   ：设定探头在下降至zui低点或探头在上升至zui点时的停留时间，每按次数据自动+1（范围为0-95），大于95时自动回0，对应时间约为数据1≈0.2秒

（8）   ：设定探头在下降至zui低点或探头在上升至zui点时的停留时间，每按次数据自动-1（范围为0-95），小于0后自动跳到95，对应时间约为数据1≈0.2秒

3、日常维护

（1）在测试架的立柱上有卡环，防止电动测试件因操作失误而跌落，保护探针头和测试台面。可根据需要把卡环紧固在合适的位置。

（2）测试台可360度旋转，通过靠近把手的内六角螺丝调节旋转的松紧。

（3）在设定探头下降zui低点时，般把砝码起1-2mm即可，砝码zui可起约为8mm，起过可能会卡住探头引出线。

（4）在电动架上的机械活动分需定期加黄油，保证活动顺畅。在探针头上的两条直线轴承上也需定期加少量润滑油。

4、主机能数

（4）供电电源：

     AC  220V±10%    50/60  Hz    率：40W

（5）使用环境：

温度：23±2℃   相对湿度：≤65%

无较强的电场干扰，无强光直接照射

（6）重量、体积：

主机重量：30kg

体积：300×400×400（单位：mm  长度×宽度×度）

3. 红宝石探针头系列 红宝石探测器 红宝石探针头 红宝石探测仪（A） 型号：KDK-KDT

、点
1、 使用几何尺寸十分的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。
2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。
3、 采用制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有立、准确的压力。
4、 量具度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
二、用途
1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。
2、 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。
三、探针间距
1、 直线四探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探针…………… 1.00mm
3、 直线三探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 两探针    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、标
1、 游移率   

                   B…………… ＜0.5%
                   A……………＜0.3%

                   AA………… ＜0.2%
                   AAA…………＜0.1%
2、 间距偏差  

                   B…………… ＜3%
                   A…………… ＜2%
                   AA…………  ＜2%
                   AAA………… ＜1%
3、 zui大针与导孔间隙：0.006mm
4、 探针材料：硬质合金（主成份：口碳化钨）或速钢
5、 探针压力      标准压力：6—10N（4根针总压力）
                        小压力：1.2—5N（4根针总压力）     
                        1牛顿（N）=101.97克
6、 针尖压痕直径：25—100μｍ、100—250μｍ（簿层）
7、 500V缘电阻：＞1000MΩ

4. 导电型号测试仪 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-3

KDK-STY—3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整导电类型测试方法的导电类型鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。

二、性能

1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：

锗：非本征锗10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

经内外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整法结果可靠。

2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制

3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。

5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整法行选用硬质合金作探针。

6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供电，zui大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：约 4 kg

5. 导电型号测试仪 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2

本仪器运用了四代集成电路、。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。
对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以准确地鉴定出导电型号。
使用方法：
1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。
2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到作温度时，保温（绿）灯亮，即可行型号测量。热探笔随后自动入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（标及际标准规定的温度）。
3、将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。
4、测量电阻率较的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提仪器的测量灵敏度。
5、在P型、N型显示不稳定时，以多次能重复的测量结果为准。
6、测量时握笔的手不要与被测单晶接触，以免人体感应影响测量结果。

温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的