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型号:H9035

方块电阻测试仪

描述:方块电阻测试仪/电阻测试仪 型号:H9035是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准,门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。

  • 厂商性质

    生产厂家
  • 更新时间

    2022-12-27
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    503
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方块电阻测试仪/电阻测试仪  型号:H9035方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准,门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等物质的薄层电阻。

 

 

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成度稳源;带回路有效正常示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的点。

◆ 点
 
1
 采用大规模集成电路作为仪器的主要分,测量准确稳定,低耗;
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
 采用单个电池供电,带电池欠压示;
4
 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 制之手握式探笔,形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块
 
◆ 标:
 
测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
恒源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;性,量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500MΩ
电源
 9V叠层电池1节

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