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半导体性曲线分析仪TCT-2003 半导体性曲线分析仪 可程式控制面板操作 （GPIB 标准介面） 参数的量测状态直接显示在 CRT 上 利用游标能可判定元件 GO/NO-GO Z大集电10A（Pulse 40A），5A/DIV Z小集电100pA
HAD-ZWJ-20型微粒检测仪，可满足《中药典》方案和美、英、日、欧共体药典规定的对小容量注射剂中不溶性微粒的检测，也可应用于对大输液及输液器具微粒含量、输液终端过滤器滤除效果以及其它域（如石油、化、染料、食品等）液体中微粒的检测。
半导体性曲线分析仪 可程式控制面板操作 (GPIB 标准介面) 参数的量测状态直接显示在 CRT 上 利用游标能可判定元件 GO/NO-GO Z大集电10A(Pulse 40A)，5A/DIV
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