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    HDJ-SH-3B检定活塞压力计时用快速接母

    用 途:作为标准活塞压力计传递二等活塞压力计时的用快速具。 点:传递二等活塞时只需用手拧紧活塞,不再使用扳手。

    更新时间:2018-05-10型号:HDJ-SH-3B浏览量:619
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  • HY-ASC300 美校准仪
    HY-ASC300 美校准仪

    HY-ASC300具有自动电压保护能,在何测试线的接线端子输入达240VAC的电压时不会对仪表成损坏,避免了昂的维修费用。在接入电压后只需要断开接线,10秒钟以后ASC300就可正常作。

    更新时间:2018-05-05型号:HY-ASC300 美浏览量:783
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    HAD-ZWJ-20A智能微粒分析仪

    HAD-ZWJ-20型微粒检测仪,可满足《中药典》方案和美、英、日、欧共体药典规定的对小容量注射剂中不溶性微粒的检测,也可应用于对大输液及输液器具微粒含量、输液终端过滤器滤除效果以及其它域(如石油、化、染料、食品等)液体中微粒的检测。

    更新时间:2023-06-29型号:HAD-ZWJ-20A浏览量:789
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    KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪 型号:KDK-KDY-1

    四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。

    更新时间:2016-06-19型号:KDK-KDY-1浏览量:1745
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    HAD-ST2258A数字式四探针测试仪/四探针电阻率测试仪

    HAD-ST2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。

    更新时间:2018-02-03型号:HAD-ST2258A浏览量:438
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    GSZ-RTS-4四探针检测仪

    GSZ-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。

    更新时间:2023-04-07型号:GSZ-RTS-4浏览量:1331
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