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方块电阻测试仪 型号：HAD-DB1 HAD-DB1本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
污泥含水率检测仪HADSFY-20A HADSFY-20A污泥含水快速水份测定仪具有温度设定和控制等能，采用目前际通用的干燥失重法研制而成的新代快速污泥水分测定仪器，它采用口称重系统称重取样，采用卤素辐射源快速干燥样品，在干燥过程中，水分仪持续并即时显示样品丢失的水分含量%，干燥程序成后，Z终测定的水分含量值被锁定显示，直接计算干燥前后样量的变化来求取含水率。目前被广泛应用于各
方块电阻测试仪/电阻测试仪 型号：H9035是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等物质的薄层电阻。
方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻。
方块电阻测试仪是种依照类似的家标准和美A.S.T.M标准，门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等物质的薄层电阻。
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